2017 Fiscal Year Annual Research Report
Studies on Reliability Enhancement of Circuits Programmed on FPGAs
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26330067
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| Research Institution | Oita University |
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Principal Investigator |
大竹 哲史 大分大学, 理工学部, 准教授 (20314528)
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| Project Period (FY) |
2014-04-01 – 2018-03-31
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| Keywords | FPGA / フィールドテスト / 特定用途依存テスト / 遅延故障 / 故障診断 / BIST / 対故障設計 / 劣化検知 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本テーマでは，フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）上に搭載された回路の高信頼化を実現するため，使用環境でのテストおよび診断（フィールドテスト）のための要素技術となる（１）線形フィードバックシフトレジスタ（ＬＦＳＲ），（２）レジスタ転送レベルのテスト容易化設計（ＤＦＴ），（３）通常動作モード／テストモード切り替え制御，（４）高品質遅延故障組込み自己テスト（ＢＩＳＴ），（５）ＢＩＳＴ環境での遅延故障診断について研究を行っている．
研究期間を延長した平成２９年度は，主に（４），（５）に関する研究を実施した．（４）においては，新しい高品質遅延故障ＢＩＳＴのためのＬＦＳＲシード生成法を提案した．従来は，多数のシードを生成しておいて，その中から高品質遅延故障ＢＩＳＴを実現するためのシードを選択するという手法をとっていたが，シードを評価するための故障シミュレーションに膨大な時間がかかるという課題があった．提案法では，テスト品質条件を満たしていない遅延故障に対するシードを動的に生成する方法をとっており，シミュレーション時間の大幅な短縮を実現した．本成果により，当初予定していた高品質遅延故障ＢＩＳＴの実現のための要素技術が揃ったと考えられる．本成果については電子情報通信学会の研究会論文として発表した．今後，国際会議及び論文誌論文として発表する準備をしている．
（５）においては，平成２８年度に引き続き，大規模回路での評価を行うため，与えられた回路に対して提案手法を自動的に適応するためのプロトタイプシステムの作成を行った．評価結果について，国際会議及び論文誌論文として発表する準備をしている．
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