2015 Fiscal Year Research-status Report
間欠型ＢＩＳＴシステムを用いたＡＭＳシステムＬＳＩの高信頼化
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26330070
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| Research Institution | Kochi University of Technology |
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Principal Investigator |
橘 昌良 高知工科大学, 工学部, 教授 (50171715)
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| Project Period (FY) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| Keywords | Analog-Mixed Signal / Built-In Self Test / Chaotic Oscillator / Impulse Response / パラメータ故障 / カタストロフィック故障 / デパンダブルコンピューティング |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究はAMS(Analog Mixed Signal)システムLSIの高信頼化を目的としたアナログ回路の故障検出をシステムの動作中にも行える機構の開発を種鶴目的としている。この機構はAMSシステムがデジタル/アナログ両方の回路を組み合わせて使える利点を利用して、検査対象となるアナログ回路の動作を必要としない時間を利用してテストを進めることで、システムの動作状態での動作以上の検出を行うことができるシステムを提案し、LSI化を行い、その有効性を実証することを目標としている。
平成２７年度には、基準電源回路のカタストロフィック故障を検出するための回路に関してLSI化の検討とΔΣ変調器でのカオス発振に基づいたパラメータ故障の検出手法に関しての回路シミュレーションとLSI化による動作確認を行った。基準電源については回路自体の不具合により動作確認には至らなかったが、ΔΣ変調器に関しては積分器に用いられている抵抗、キャパシタについてパラメータ故障を検出できることが確認できた。
上記のテスト手法のなかで、カオス発振を利用した手法は、これまで開発してきたインパルス応答による故障検出手法と比べると、パラメータ故障も検出できるので応用範囲が広いが、LSI化した場合の検証が不十分であり、今後の研究が必要である。
以上の研究結果については、国際学会での発表が２件ある。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
計画では基準電流/電圧発生回路については実チップでの実証を行う予定であったが、ＬＳＩのパラメータバラツキの影響で実チップでの確認はまだできていない。パラメータバラツキに強い回路の設計は終了しているの、平成２８年度に確認を行う予定である。カオス発振によるパラメータ故障の検出は実チップでの検証を行ったが、アナログ回路によるカオス発振回路の特性に実質的な再現性がない可能性があり、この点を平成２８年度に検討を行う予定である。
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| Strategy for Future Research Activity |
平成２７年度の研究成果を踏まえて、基準電流/電圧発生回路の故障検出に関しては実チップでの実証を行い有効性を確認する予定である。カオス発振を利用したパラメータ故障の検出に関しては、応用範囲の拡大と、実チップでの確認を行う予定である。また、発振回路の特性の再現性に関しても検討を行う予定である。
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