2014 Fiscal Year Research-status Report
高位設計からのLSIの非スキャンテスト容易化動作合成及びテスト生成に関する研究
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26330071
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| Research Institution | Nihon University |
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Principal Investigator |
細川 利典 日本大学, 生産工学部, 教授 (40373005)
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2014-04-01 – 2017-03-31
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| Keywords | テスト容易化バインディング / テスト容易化スケジューリング / 階層テスト生成 / テスト容易化機能的時間展開モデル生成 / 低消費電力指向テスト生成 / マルチサイクルキャプチャテスト生成 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究では、LSI（大規模集積回路）に搭載されている機密情報の安全性を保証しつつ、低コストで高品質なLSI の製造テストを実施し、その信頼性・安全性を確保する技術を確立することを目的とする。以下に平成26年度の３つの研究目標に対する研究実績を記載する。
１．テスト容易化動作合成技術（１）順序テスト生成を困難にする要素である演算器入出力の順序深度を解析し、その段数を削減するバインディングアルゴリズムを検討し、評価を行った。（２）階層テストの品質を表す使用である階層テスト生成可能演算器数を増加させるバインディングを実装し、その評価を行った。（３）階層テスト生成可能演算器数増加のためのバインディングの効果を高めるためのスケジューリングアルゴリズムの検討を行い、評価を行った。
２． 階層テスト生成技術（１）テスト環境中の代数記号に、階層ライブラリ中のテストパターンを基に実際の整数値を割当てテスト系列を生成し、計算機実験による評価を行った。（２）テスト実行時間を削減するために、順序回路故障シミュレーションを基に不要なテスト系列を削除するアルゴリズムを実装し、その評価を行った。（３）低消費電力指向のテスト系列を生成するテスト生成アルゴリズムの検討・実装・及び計算機実験による評価を行った。
３．テスト生成容易化機能抽出技術
データパスのテスト生成容易化機能情報抽出とそのデータパスのテスト動作を実現するコントローラ拡大に関するアルゴリズムを検討し、その実装を行い、計算機実験による評価を行った。
以上のように、少ないオーバーヘッドで、テスト生成を容易にするための回路を合成する可能性を高めることができ、LSIのテストコスト削減と品質の向上に寄与することができた。さらに消費電力の削減に故障伝搬経路の選択や実動作に基づくテスト生成アルゴリズムが有効であることを示し、LSIテストの信頼性を高めることができた。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
テスト容易化動作合成に関しては、階層テスト可能演算器数を増加するためのバインディング法の実装及び、スケジューリング法のアルゴリズム設計が完了しており、ほぼ計画通りに研究が進んでいると考える。また階層テスト生成についても、テスト系列生成、テスト圧縮の計算機実験が完了し、ほぼ計画通りに研究が進んでいると考える。さらに低消費電力指向のテスト系列の生成に関しては、複数アルゴリズムの検討、実装、計算機実験による評価が完了しており、前倒しで研究が進んでいると考える。また、テスト生成容易化機能抽出技術に関しては、テスト容易化機能的時間展開モデル生成のアルゴリズム設計・実装・計算機実験による評価が完了しており、ほぼ計画通りに研究が進んでいると考える。よって、全体を通してみても、ほぼ計画通りに研究が進んでいると考える。
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| Strategy for Future Research Activity |
テスト容易化動作合成に関しては、データパスのテスト容易ためのバインディング法やスケジューリング法を強化することに加え、コントローラのテスト容易化のための動作合成アルゴリズムの検討を開始する。またテスト容易化に加え、セキュリティの高い回路を合成する動作合成アルゴリズムの検討も開始する。
テスト生成に関しては、低消費電力テスト生成に加えて、消費電力を制御可能なテスト生成アルゴリズムの検討を開始する。さらに生成したテストパターン数を削減する低消費電力なテスト圧縮アルゴリズムの検討も開始する。
テスト容易化機能的時間展開モデル生成に関しては、低消費電力なテスト生成モデルの生成アルゴリズムの検討を開始するとともに、コントローラのテスト容易化機能的時間展開モデル生成アルゴリズムの検討を開始する。
今年度から研究協力者として、九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系の宮瀬紘平助教と低消費電力テストとテスト生成の分野で研究討論を行い、日本大学生産工学部教養・基礎科学系の山崎紘史助手とテスト圧縮やテスト生成の分野で研究討論を行う予定である。
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| Causes of Carryover |
2015年3月分の学生アルバイトの代金分を準備していたためと研究打ち合わせの出張の代金を準備していたため。
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| Expenditure Plan for Carryover Budget |
実験評価用の計算機の購入、国内学会・国際会議出張旅費、研究協力者との研究打ち合わせ旅費、学生アルバイトに対する謝金などに使用する計画である。
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