2015 Fiscal Year Research-status Report
高位設計からのLSIの非スキャンテスト容易化動作合成及びテスト生成に関する研究
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26330071
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| Research Institution | Nihon University |
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Principal Investigator |
細川 利典 日本大学, 生産工学部, 教授 (40373005)
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2014-04-01 – 2017-03-31
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| Keywords | テスト容易化バインディング / テスト容易化スケジューリング / テスト容易化機能的時間展開モデル / 低消費電力指向テスト圧縮 / テストポイント挿入 / コントローラ拡大 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究では、LSI（大規模集積回路）に搭載されている機密情報の安全性を保証しつつ、低コストで高品質なLSIの製造テストを実施し、その信頼性・安全性を確保する技術を確立することを目的とする。以下に、平成27年度の３つの研究目標に対する研究実績を記載する。
１．テスト容易化動作合成技術（１）テスト容易化機能的時間展開モデルの時間展開数を削減することを目的とした演算器入出力順序深度を削減するためのテスト容易化バインディングアルゴリズムの検討・実装・及び計算機実験による評価を行った。（２）演算器入出力順序深度を削減するテスト容易化バインディングの効果を高めるためのスケジューリングアルゴリズムの検討を行った。
２．階層テスト生成技術（１）低消費電力指向のテスト系列長を削減することを目的とした動的テスト圧縮のための活性化ファンアウトフリー領域の２次故障選択アルゴリズムの検討・実装・評価を行った。
３．テスト生成容易化機能抽出技術（１）コントローラの拡大を用いたデータパスのテスト容易化機能的時間展開モデル生成アルゴリズムの検討・実装・評価を行った。（２）テスト実行時間の削減を目的としたデータパスの演算器の並列テストを可能とするためのコントローラ拡大及びテストポイント挿入アルゴリズムの検討・実装・評価を行った。
以上のように、少ないハードウェアオーバヘッドで、テスト生成及びテスト圧縮を容易にするための回路が合成・設計される可能性を高めることができ、LSIのテストコスト削減と品質向上に寄与することができた。さらに活性化ファンアウトフリー領域の故障を２次故障として選択することが、消費電力の削減を行いながらテストコストを削減できるテスト圧縮アルゴリズムとして有効であることを示し、LSIテストの信頼性を高めることができた。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
テスト容易化動作合成に関しては、データパスのテスト容易化機能的時間展開モデルの時間展開数を削減するためのバインディング法の実装・評価、及びスケジューリング法のアルゴリズム検討が完了しており、ほぼ計画通りに研究が進んでいると考える。また階層テスト生成についても低消費電力指向動的テスト圧縮法の評価が完了しており、ほぼ計画通りに研究が進んでいると考える。またテスト容易化機能抽出技術に関しては、データパスのテスト容易化機能的時間展開モデル生成の実装・評価が完了しているが、コントローラのテスト容易化機能的時間展開モデル生成アルゴリズムの検討が未着手である。しかしながら、新規にデータパスの演算器の並列テストに関するコントローラ拡大・テストポイント挿入法に関して実装・評価が完了している。よって、全体を通してみると、ほぼ計画通りに研究が進んでいると考える。
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| Strategy for Future Research Activity |
テスト容易化動作合成に関しては、データパスのテスト容易化のためのバインディング法やスケジューリング法を強化することに加え、セキュリティの高い回路を合成する動作合成アルゴリズムの検討を開始する。
テスト生成に関しては、低消費電力テスト生成・テスト圧縮の強化に加え、データパス中の演算器の並列テストを可能にするために、故障のスケジューリングやテスト生成制約の抽出アルゴリズムの検討を開始する。さらにテスト不能故障判定アルゴリズムの検討を開始する。
テスト容易化機能的時間展開モデル生成に関しては、コントローラのテスト容易化機能的時間展開モデル生成アルゴリズムの検討に加えて、演算器の並列テストのためのコントローラ拡大アルゴリズムの検討を開始する。
前年度までの研究協力者に加え、今年度から新たな研究協力者として、徳島大学大学院理工学研究部理工学部門電気電子系の四柳浩之准教授と高品質テスト生成とテスト不可能故障判定の分野で研究討論を行い、九州大学大学院システム情報科学研究院情報知能工学部門の松永裕介准教授とテスト圧縮やテスト生成及び動作合成の分野で研究討論を行う予定である。
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| Causes of Carryover |
平成２７年度に研究協力者との研究打ち合わせのための旅費を準備していたが、日程調整ができずに、平成２８年度に研究打ち合わせを延期したため。
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| Expenditure Plan for Carryover Budget |
実験評価用の計算機の購入、国内学会・国際会議出張旅費、研究協力者との研究打ち合わせ旅費、学生アルバイトに対する謝金などに使用する計画である。
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