シンクロトロン放射光によるX線応力測定

1986 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 59460069
• Research Institution: Musashi Institute of Technology
• Principal Investigator: 吉岡 靖夫 武蔵工大, 工学部, 助教授 (40061501)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 長谷川 賢一 東京大学, 工学部, 助教授 (40010798) ; 浅見 克敏 武蔵工業大学, 工学部, 教授 (60061561) ; 中添 淳 武蔵工業大学, 工学部, 教授 (50061510)
• Keywords: シンクロトロン放射光 / X線応力測定 / 残留応力 / 集合組織 / セラミックス / 位置敏感型X線検出器

Research Abstract

本年度は最終年に当たるため、主として補充実験や結果の取りまとめを行なった。新しい実験としては、シンクロトロン装置を用いてセラミックス材料の残留応力測定を試みた。
結果を要訳すると以下の通りである。
1.集合組織を有する鋼の応力測定:前年から引き続き行なって来たが、5種類の格子面についてX線格子ひずみを細かく測定することが出来た。これらの格子ひずみは【Sin^2】4に対して何れも非線型の分布をするが、この分布が弾性異方性、塑性異方性およびX線光学的異方性に関しては従来の理論をさらに発展することで実験結果をよく説明することが可能となった。またX線光学上の問題については、検出器を走査させる従来の方法による実験を行なうとともに、理論解析を行ない、非線型の原因をほゞ突き止めることが出来た。
その結果、集合組織を有する鋼の弾性応力および残留応力を測定するには(211)面のψ角が0および60度のX線格子ひずみを測定すれば良いことが明らかとなった。
2.セラミックスの応力測定:セラミックス材料は金属に比べて格子定数が大きいため普通用いる特性X線での応力測定では、回折線が僅かの間隔で数多く現われるため、精度の良い測定が期待し難い。そこでシンクロトロン放射光によるX線を用いて測定を行ったところ、極めて尖鋭な回折線が得られ容易に精度の高い応力値を得ることが出来た。
セラミックス関係の応力測定は、これから数多く行なわれると思うが、その際、シンクロトロン放射光は不可欠な有力な武器となることが、今回の実験で確認できた。

Research Products

• [Publications] 吉岡靖夫: 材料. 35. 755-760 (1986)
• [Publications] 松井久明: 材料. 36. (1987)
• [Publications] YASUO YOSHIOKA: Proc.ICRs. (1987)