1985 Fiscal Year Annual Research Report
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60420050
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| Research Institution | Nagoya University |
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Principal Investigator |
築島 隆繁 名古屋大学, 工, 教授 (20023020)
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| Keywords | ダブルレイヤー / 乱流加熱 / 電子ホール |
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| Research Abstract |
本研究は既設の乱流加熱用直線型ミラー装置で観測されたダブルレイヤー(DL)現象を対象とし、その崩壊過程に伴う急激なプラズマ加熱現象の定量的解明を目的として4年計画で始められた。初年度に当たる本年度の主要研究経過を以下に列記する。
1. 当初計画通り、トムソン散乱法による電子温度測定のためのルビーレーザ発振器一式(780万円)、および散乱光受光システム一式(330万円)の発注を行った。前者は既に納入済みである。後者は若干の仕様変更を行ったので61年2月末に納入された。現在、光学系、および受光信号の処理システムを整備中である。
2. これまでの実験により、DLの寿命【τ_D】は、初期電子密度neと DLが維持されている間の電流値に強く依存することが見出されている。本年度は残留中性原子の電離が【τ_D】に及ぼす影響を調べた。予備実験の結果によると残留【H_2】ガスの圧力が5×【10^(-6)】Torr以下では殆ど【τ_D】に影響しないことが見出された。このことは、DLの崩壊過程において高速電子に叩かれて電極から発生する2次電子の影響が相対的に大きいことを示唆している。
3. 一次元計算機シミュレーションでDL形成の前駆現象として電子ホール(正のポテンシャルピーク)が観測されていたので、実際の乱流加熱プラズマについて、加熱用外部電圧印加直後の様子を10nsのサンプリング間隔で詳しく調べたところ、実験的にも電子ホールが発生していることが見出された。乱流加熱装置で外部印加電圧よりも高い電圧領域が存在することを直接観測したのはこれが初めてであり、DL形成機構を解明する上で重要な知見を得た。
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Research Products
(2 results)
