1986 Fiscal Year Annual Research Report
平面波X線顕微法および二結晶回折計によるロッシェル塩ドメイン構造の研究
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60580048
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| Research Institution | Tokyo University of Science |
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Principal Investigator |
石田 興太郎 理科大, 理工学部, 助教授 (30012404)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
加藤 弘之 東京理科大学, 理工学部, 助手 (80084482)
梅沢 喜久夫 東京理科大学, 理工学部, 助手 (00084484)
高木 佐知夫 東京理科大学, 理工学部, 教授 (70012151)
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| Keywords | 強誘電体 / X線トポグラフ / ロッシェル塩 |
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| Research Abstract |
水溶液より除冷法によって、ロッシェル塩の単結晶を作成し、その強誘電相のドメイン構造を非対称反射を利用した平面波X線トポグラフおよび二結晶回析計を用いて調べた。得られた主なる結果は下記の通りである。
1.C-プレートの強誘電相において、b-ドメイン領域でブラッグピークが二つに分裂することを発見、この分裂の原因が強誘電相における単斜晶系のせん断歪みによることを確認した。またこの分裂の角度の温度依存性を測定し、自発分極の測定と比較した。
2.電界をかけることにより、b-ドメインの二つのピークの大きさが変ることを認め、これが各ドメインの体積に比例するとして、そのヒステリシス曲線を求めた。
3.C-プレートの強誘電相において、ブラッグピークが三つに分裂する場合、各ピークによるトポグラフを撮り、これより各ピークが双晶関係にある二つのb-ドメインとC-ドメインに対応することを確認した。
4.ドメイン壁に通常のものより強い歪みを伴ったものが存在し、この分壁は電界をかけても移動しずらいことを観察した。またこの強い歪みを伴った分壁は相転移に対しても比較的に再現性があることも認められたが、この歪みの原因についてはまだ不明である。
5.結晶内の欠陥のX線トポグラフによる観察では、インクルージョンによる点状欠陥、いわゆるすだれ構造あるいはトンネル構造による線状欠陥、結晶成長のセクター間の微小角粒界による面状欠陥等は見られたが、転位像に相当するものは発見できなかった。
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Research Products
(1 results)
