A.F.機構を組み込んだ光計測による非接触工具損傷モニタリング装置の開発

1985 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 60850024
• Research Institution: Kyoto University
• Principal Investigator: 岡村 健二郎 京都大学, 工, 教授 (40025812)
• Keywords: 工具損傷 / 光計測 / 非接触モニタリング / A.F.機構 / 画像処理

Research Abstract

本研究の目的は、我が国有数の工具メーカの協力を得て、カメラ等の光学分野においてその技術開発が行われている自動焦点合わせ(A.F.)技術を用いてグローブの位置決めを行ない、光学的干渉を利用して工具表面状態を非接触で高精度に測定し、その測定画像をオンラインで画像処理することにより、汎用性のある、工具損傷モニタリング技術を開発することにある。今年度は、ITVを工具面に焦点合わせをするためのA.F.方式を開発し、これにより工具面画像の処理による工具損傷モニタリング実験を行った。主な研究実績は次の通りである。
(1) ITVカメラの工具位置・摩耗端部への自動焦点合わせ(A.F.)装置の開発実験を終了。
(2) 光干渉法による工具表面状態観察方式の理論的・実験的検討を終了。
(3) ITVカメラを通じて得られた工具表面摩耗部の画像処理方式の理論的・実験的検討を終了。
(4) 工具損傷のコンピュータ分析技術の理論的・実験的検討を一部終了。