非破壊的方法による彩色文化財の総合的現地調査方法の確立とその応用に関する研究

1988 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 61300016
• Research Institution: National Research Institute for Cultural Properties, Tokyo
• Principal Investigator: 濱田 隆 東京国立文化財研究所, 所長 (00125212)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 関口 正之 東京国立文化財研究所, 美術部, 部長 (60000452) ; 伊原 恵司 東京国立文化財研究所, 修復技術部, 部長 (40124193) ; 見城 敏子 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 室長 (90000455) ; 門倉 武夫 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 主任研究官 (10000457) ; 馬淵 久夫 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 部長 (30011498)
• Keywords: 壁画 / 非破壌分析 / 彩色文化財 / 蛍光X線分析 / X線回折 / 赤外吸収

Research Abstract

敦煌莫高窟に代表されるように、東アジアには種々の顔料を使った壁画が残されている。それらの顔料の歴史的変遷を知ることは、美術史的にも保存科学的にも重要である。この場合、現場で非破壊的に分析することが望ましい。プロセスとしては、蛍光X線により元素を同定し、X線回折で化合物、特に結晶を同定するということになる。さらに、有機性の色素が使われているときには、赤外吸収を用いる。これら3種類の機器は、通常、実験室内で粉末状の試料を測定するように設計されている。本研究は、可搬式で、壁面をそのまま測定することができる機器を開発し、実際の例に応用して問題点を拾い上げることを目的とした。
1.段型プラットリフターの作成:3種類の機器に共通に使用でき、現場で任意の1種類の機器を載せて、壁画近くで上下・前後・左右に微動させる架台である。油圧式で高さ3mまで持上げ可能である。特注により作成した。
2.蛍光X線分析装置とX線回折装置の改造:従来の装置を実験室外で使用できるように、電源・冷却水・架台などを改変した。
3.赤外吸収分光計の特注:市販の機器は内部試料型なので、クベルク・ムンクの拡散反射法を採用し、壁面のような外部試料を測れるように設計変更させた。
4.壁画調査のテスト:横浜市の三渓園天瑞寺寺塔(2回)と五条市栄山寺八角堂(1回)において壁画残部を調査した。三渓園では銅が検出され、緑青と同定された。栄山寺では銅と水銀が検出されたがX線回折装置の故障のため、化合物は同定できなかった。全体を通じて実験室外では、電源(電圧降下)、水(供給源)、足場(水平に保つ)、気象条件によるコンピュータの故障などが問題になり、それらへの対策を予め考えることが重要とわかった。