DNA断片多形性によるブルトン型免疫不全症欠陥遺伝子キャリアーの診断法の開発

1987 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 61570451
• Research Institution: Nagoya University
• Principal Investigator: 松岡 宏 名古屋大学, 医学部, 助手 (50157278)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 黒沢 良和 藤田学園保健衛生大学, 医学部, 教授 (10109259)
• Keywords: 伴性遺伝病 / 先天性免疫不全症 / ブルトン型免疫不全症 / X染色体マッピング / DNA断片多形性

Research Abstract

先天性免疫不全症の病因を遺伝子レベルで探り, DNA診断に役立てるべく, 伴性劣性遺伝性免疫不全症患者および家族について制限酵素によるX染色体DNA断片多形性を昨年にひき続いて検討し, 以下の成績を得た.
1.本邦におけるX染色体多形頻度が極めて低いという昨年の結果と反省にもとづいて, 4, 5塩基認識制限酵素とナイロン膜を用いて, 短かいDNA断片の多形性まで検討できる条件を検討した. その結果, Reedらの方法に準じた条件で, 120塩基対までの解析が可能となった.
2.この方法を用いて, 昨年作製したX染色体短腕2か所, 長腕5か所に由来する9種類のプローブについて, ブルトン型免疫不全1家系を対象として検討した. その結果, 多形性は認められなかった.
3.ブルトン型免疫不全が含まれると予想されるが, 従来の免疫学的検査法では分類不能型とされている末梢血B細胞を欠くタイプの免疫不全の3家系を対象としてEBウイルス形質転換B細胞株とDNAを調整した. また, ブルトン型以外の伴性劣性遺伝性免疫不全として, ローゼン型免疫不全と, 伴性劣性遺伝型重症複合免疫不全各1家系よりDNAを調整した.
4.欧米のDNA断片多形性研究施設から, 10種類のX染色体由来, 多形性解析用DNAプローブを入手し調整した(この中には, ブルトン型遺伝子と強い連鎖を有すると昨年報告されたDXS17;S21とDXS4;99-6が含まれる).
次年度は, これらのプローブを用いて, ブルトン型家系ならびに3で調整したDNAを対象として, 症例を重ねて本邦におけるDNA断片多形性に関する解析データを蓄積する予定である.