1987 Fiscal Year Annual Research Report
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62550023
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
長谷川 賢一 東京大学, 工学部, 助教授 (40010798)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
持木 幸一 東京大学, 工学部, 助手 (80107549)
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| Keywords | 計数法 / X線 / γ線 / 放射線計測 |
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| Research Abstract |
研究目的 放射光の利用のような強力なZ線フラックスを用いると, 短時間測定ができる. これにはダイナミックレンジの広い高計数放射線測定器が必要である. われわれが先に開発したゆらぎ検出法とパルス計数法を結合するマルチレベルカウンティングをこの分野の測定器に応用すると, 高計数率特性が得られ, 測定対象の拡大, 精度の向上が期待できる. また, γ線を対象とするワイドレンジ線量計にも応用可能である.
1)中性子核計装でのマルチレベルカウンティング法の有用性のチェック. 東大中性子源炉弥生を用いて, 核分裂計数管の出力の16チャネルディスクリミネータでの信号処理出力と炉出力との関係を求めたところ, パルス計数範囲の上限から3桁上まで, 比例性が得られた. ただし, ゆらぎ領域とパルス領域の接続のためには, 補正が必要で, 現在検討中である.
2)X線計数
東大工学部の強力X線発生装置からの8KeVのZ線のをNaIシンチレーション検出器に入れ, 整形回路の微分, 積分時定数100nsで測定した結果, パルス計数の上限5×10^5ppsに対して5×10^6ppsまで, 直線性が得られた. パルス計数の上限はNaIシンチレータの減衰時定数230nsと整形時定数により決定される. また高計数率領域での特性は, 入力X線フラックスの設定誤差も含むので, 今後の放射光X線での実験により, さらにワイドレンジ化の可能性を求めることができよう.
3)γ線による実験
^<137>Csで同様の実験を行ない, 2×10^6ppsまでの直線性を確認した.
4)計算機シミュレーション
計数特性の波高分布依存性を計算したが, 実験結果とよい一致を示している.
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