1988 Fiscal Year Annual Research Report
歯科用金銀パラジウム合金の開発ならびに腐食速度と腐食機構の解明
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62570861
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| Research Institution | Higashi-Nippon-Gakuen University |
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Principal Investigator |
松田 浩一 東日本学園大, 歯学部, 教授 (20109458)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
荊木 裕司 東日本学園大, 歯学部, 助教授 (30139604)
大野 弘機 東日本学園大, 歯学部, 教授 (70018430)
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| Keywords | 歯科用銀合金 / クーロスタット法 / 電位ー電流曲線 |
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| Research Abstract |
歯科用金銀パラジウム合金の開発ならびに腐食速度と腐食機構を解明するために以下の実験を行なった。
1.歯科用銀合金の腐食速度評価法としてのクーロスタット法を用いて、6種のAgーPd合金、4種のAgーPdーCu合金、AgーCu合金、純Ag、純Pdと3種の市販合金(AgーPdーCuーAu合金、AgーPdーCu合金、AgーSnーZn合金)を用いて以下の実験を行った。まずクーロスタット法により分極抵抗の測定を行い、次に溶液の原子吸光分析、重量減少量の測定を行い、腐食速度を求め、分極抵抗と腐食速度の関係について考察した。その結果以下の知見を得た。
AgーPd合金ではPd含有量の増加にしたがい平均腐食速度が減少し、AgーPdーCu合金ではCu含有量の増加にしたがい平均腐食速度が増加した。用いた試料の中でAgー75Pdが最も平均腐食速度が小さく2.3×10^<-5>(A/cm^2)となり、AgーCu合金が最も大きく4.4×10^<-5>(A/cm^2)となった。
2.Ag:Pdが原子比で3:1の母合金にCuを0〜30%又はAuを0〜30%添加した試料を作製した。それらの合金の試料を0.9%NaCl溶液中にて電気化学的測定装置ポテンショスタットを使用して(A)非定常法による電位ー電流曲線から腐食挙動を調べた。(B)定常法により各電位に係留した試料の被膜を反射電子回折と光電子分光法(XPS)にて分析した。そして以下の結果を得た。
(1)A)AgーPdーAu合金においては、Auが増すことにより、アノード電流密度、カソード電流密度は減少した。又10mass%を越えると著しく減少する。
(2)A)AgーPdーCu合金においては、Cuが増すことにより、アノード電流密度、カソード電流密度は増加した。
現在、腐食による変色についても研究している。
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