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2015 Fiscal Year Annual Research Report

スペクトロスコピックX線回折イメージングによるナノスケールX線吸収分光

Publicly Offered Research

Project AreaExploration of nanostructure-property relationships for materials innovation
Project/Area Number 26106515
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

高橋 幸生  大阪大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (00415217)

Project Period (FY) 2014-04-01 – 2016-03-31
KeywordsX線 / 金属物性
Outline of Annual Research Achievements

昨年度実施した計算機シミュレーションの結果に基づき、コヒーレントX線回折イメージングによるX線吸収分光測定の原理実証実験を大型放射光施設SPring-8にて行った。厚さ1マイクロメートルの窒化珪素膜基板上に酸化マンガン(Ⅱ)、酸化マンガン(Ⅱ、Ⅲ)をそれぞれ600ナノメートル成膜し、集束イオンビーム加工装置によって、最小構造100ナノメートルの文字列パターンを加工し、観察試料とした。原理実証実験は、SPring-8の理化学研究所専用のビームラインBL29XULにて行った。MnのK吸収端近傍のエネルギーに単色化されたX線を全反射集光鏡によって約600ナノメートル(半値幅)に集光し、試料に照射した。試料から散乱されたX線は直接撮像型二次元X線検出器によって検出した。入射X線エネルギーをMnのK吸収端近傍で変化させ、20点の入射X線エネルギーでコヒーレントX線回折強度パターンを測定した。そして、コヒーレント回折強度パターンに位相回復計算を実行し、試料像を再構成した結果、20ナノメートルのピクセル分解能で試料像を再構成することに成功した。そして、再構成像中の同じ箇所の1ピクセル強度の入射X線エネルギー毎に抜き出しプロットすることでX線吸収量のエネルギー依存性を調べた。X線吸収量のエネルギー依存性はX線吸収スペクトルの一般的な特徴を有し、参照試料のX線吸収スペクトルと良い一致を示していた。以上のように、コヒーレントX線回折イメージングにより高空間分解能X線吸収分光を実証することに成功した。

Research Progress Status

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

27年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (6 results)

All 2016 2015 Other

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results,  Open Access: 1 results,  Acknowledgement Compliant: 2 results) Presentation (3 results) (of which Invited: 3 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Dark-field X-ray Ptychography2015

    • Author(s)
      Akihiro Suzuki, Yukio Takahashi
    • Journal Title

      Optics Express

      Volume: 23 Pages: 16429-16438

    • DOI

      10.1364/OE.23.016429

    • Peer Reviewed / Open Access / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Precession X-ray Ptychography with Multislice Approach2015

    • Author(s)
      Kei Shimomura, Akihiro Suzuki, Makoto Hirose, Yukio Takahashi
    • Journal Title

      Physical Review B

      Volume: 91 Pages: 214114

    • DOI

      10.1103/PhysRevB.91.214114

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Presentation] X線タイコグラフィによるナノ構造解析2016

    • Author(s)
      高橋幸生
    • Organizer
      薄膜第131委員会研究会
    • Place of Presentation
      名古屋大学
    • Year and Date
      2016-02-04 – 2016-02-04
    • Invited
  • [Presentation] コヒーレントX線回折による次世代の構造可視化研究2015

    • Author(s)
      高橋幸生
    • Organizer
      PF研究会「次世代放射光光源を用いた構造物性研究への期待」
    • Place of Presentation
      高エネルギー加速器研究機構
    • Year and Date
      2015-07-27 – 2015-07-27
    • Invited
  • [Presentation] X線タイコグラフィーによるナノ組織解析2015

    • Author(s)
      高橋幸生
    • Organizer
      マイクロビームアナリシス第141委員会、第160回研究会
    • Place of Presentation
      シーサイドホテル舞子ビラ神戸
    • Year and Date
      2015-05-27 – 2015-05-27
    • Invited
  • [Remarks]

    • URL

      http://www-up.prec.eng.osaka-u.ac.jp/takahashi

URL: 

Published: 2017-01-06  

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