高品質電子ビーム非破壊診断装置としての回折放射光利用に関する実験的研究
| Project/Area Number | 04F04056 |
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| Research Category |
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 外国 |
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| Research Field |
Condensed matter physics 1
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| Research Institution | High Energy Accelerator Research Organization |
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| Host Researcher |
浦川 順治 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 加速器研究施設, 教授
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| Foreign Research Fellow |
KARATAEV P.V 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 加速器研究施設, 外国人特別研究員
KARATAEV P. 大学共同利用機関法人, 高エネルギー加速器研究機構・加速器研究施設, 外国人特別研究員
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| Project Period (FY) |
2004 – 2005
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| Project Status |
Completed(Fiscal Year 2005)
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| Budget Amount *help |
¥2,400,000 (Direct Cost : ¥2,400,000)
Fiscal Year 2005 : ¥1,200,000 (Direct Cost : ¥1,200,000)
Fiscal Year 2004 : ¥1,200,000 (Direct Cost : ¥1,200,000)
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| Keywords | 回折放射 / 非破壊ビーム診断 / 金属薄膜 / 電子ビーム / 干渉測定 |
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| Research Abstract |
電子ビームのエネルギーが50GeV以上になった場合、Far-field(wave zone)approximationのため測定光学系が巨大になる問題がある。この問題を解決するためにDisphase Targetと呼ぶ新しい標的方式を導入して、その有効性を計算と実験により確認している。
2005年度は実験と理論的な考察により研究を進めた。本研究開発では電子ビームが標的スリットを通過するだけで、測定干渉パターンから電子ビームサイズおよび電子ビーム軌道変動を1ミクロン以下の高精度で得ることが目的である。高感度測定に必要なCCD検出器等を購入したので、検出器の感度を上げて、一回の電子ビーム通過で電子ビームサイズが得られるように装置を改良した。2005年度中に瞬時非破壊測定を成功させる予定であったが、Background等の除去とデータ解析の改良が必要であることが判明した。多くの実験データを取り終えたので、解析後実験結果に関する論文投稿を行う予定である。
Disphase Target実験に関する研究では、理論上の取り扱いに誤りがあり現在新しいモデルを提案するために考察を開始した。実験データは計算と良い一致を示しているが、そこから電子ビームサイズを導く方法論に問題がある。
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Report
(2results)
Research Products
(8results)
