微細構造検出器を用いた三次元飛跡検出型の方向に感度をもつ暗黒物質探索実験
| Project/Area Number |
11J00812
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| Research Category |
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 国内 |
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| Research Field |
素粒子・原子核・宇宙線・宇宙物理(実験)
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| Research Institution | Kyoto University |
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Principal Investigator |
中村 輝石 京都大学, 理学研究科, 特別研究員(DC1)
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| Project Period (FY) |
2011 – 2013
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2013)
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| Budget Amount *help |
¥1,900,000 (Direct Cost: ¥1,900,000)
Fiscal Year 2013: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
Fiscal Year 2012: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
Fiscal Year 2011: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
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| Keywords | 暗黒物質 / ガス検出器 / MPGD / μ-PIC / 暗黒物質探索 / ダークマター / NEWAGE実験 / 飛跡検出器 |
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| Research Abstract |
到来方向に感度を持つ暗黒物質探索実験において、新しい出器NEWAGE-0.3b'開発・生能評価を行ったのちに神岡地下で探索実験を行った。この検出器は、2010年に行われた前回の測定時に比べると次のような改良が施されている。①角度分解能と標的質量から最適化されたドリフト長40㎝とμ-prcを完全に覆うことができるGEMを用いて2倍の体積がある。②低圧ガスを用いることでより短い飛跡に関しての角度分解能を定義できることにより、エネルギー閾値が100keVから50keVに低減している。③新しいデータ取得システムの導入により、飛跡の形状が持つエネルギー損失の情報を用いてガンマ線バックグラウンド事象を効果的に除去できる。④冷却活性炭を用いたガス循環システムと検出器内のドリフトケージを低バックグラウンド素材であるPEEKに置き換えることでバックグラウンド源であるラドンの量を1/50以下に低下できる。
2013年の7月から11月にかけて0.327㎏・daysの測定を行い、その間安定性を確認するために定期的にエネルギー校正や検出効率の測定を行った。測定の結果、200GeV/c2の質量の暗黒物質に対して577pbのSD散乱断面積の上限を得た。これは、前回測定時より約10倍感度が高く、方向に感度を持つ実験における世界最高感度を更新した。また、Geant4のシミュレーションを用いて残存バックグラウンド事象について詳細な調査を行い、画像検出器として用いているμ-PICの絶縁体部に含まれる放射性不純物の寄与が大きいことを突き止めた。今後、低バックグラウンドμ-PICの開発が進むとさらに10倍の感度向上が見込まれ、DAMAの主張する領域の探索が可能となる見通しを作った。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
地下での暗黒物質探索実験を実施し、SD散乱断面積の制限を約10倍向上させることに成功した。また、残存バックグラウンドの理解も進め、μ-PICの絶縁体に含まれるU/Th系列の不純物が原因であることを突き止めた。
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| Strategy for Future Research Activity |
(抄録なし)
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Report
(3 results)
Research Products
(15 results)
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[Journal Article] Low pressure gas study for a direction-sensitive dark matter search experiment with MPGD2011
Author(s)
K.Nakamura, K.Miuchi, S.Iwaki, H.Kubo, T.Mizumoto, H.Nishimura, J.D.Parker, T.Sawano, A.Takada, T.Tanimori, H.Sekiya, A.Takeda
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Journal Title
Journal of Instrumentation
Volume: 7
Issue: 02
Pages: C02023-C02023
DOI
Related Report
Peer Reviewed
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