| Project/Area Number |
12750246
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Research Field |
電力工学・電気機器工学
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| Research Institution | Nippon Institute of Technology |
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Principal Investigator |
脇本 隆之 日本工業大学, 工学部, 講師 (40230932)
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| Project Period (FY) |
2000 – 2001
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2001)
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| Budget Amount *help |
¥1,400,000 (Direct Cost: ¥1,400,000)
Fiscal Year 2001: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
Fiscal Year 2000: ¥800,000 (Direct Cost: ¥800,000)
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| Keywords | インパルス電圧 / 高電圧測定 / 校正器 / インパルス電圧測定 / 校正 |
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| Research Abstract |
本研究の主目的は『高電圧用ディジタル測定器の校正技術の確立』である。この目的を達成するために、以下の3つの目的のもと研究を実施し、次の結果を得た。
1.高電圧パルス現象を安定して発生可能な回路の開発
インパルス発生回路のスイッチングに関する問題を克服する素子または補償回路を開発し、これまでより高耐電圧性に優れた校正器を完成することを目標に検討した結果、MOS-FETを用いることで1000Vまでの電圧で十分な安定性を持つことが確認できた。
2.校正パラメータの校正の不確かさの算定を明らかにする
計測工学の分野では測定器の性能を評価する指針として近年「精度」に代えて「不確かさ」の導入が進んでいる。本研究でこの不確かさ成分の算定法を確立することを目標に研究した結果、十分な妥当性を持って見積もることに成功した。
3.校正パルス発生器の最適設計法を確立し、現時点より1桁上の高精度な校正パルス
発生器を開発することを目標に検討した結果、これまでに開発した校正器を十分小さな不確かさで性能評価することにより、目標を達成することが可能であることが判明した。
以上のことがらより、本研究の目的は達成できたといえる。
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