| Project/Area Number |
13F03904
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| Research Category |
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 外国 |
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| Research Field |
Thin film/Surface and interfacial physical properties
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
川勝 英樹 東京大学, 生産技術研究所, 教授 (30224728)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
DAMIRON DENIS 東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
DAMIRON Denis 東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
DAMIRON Denis 東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
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| Project Period (FY) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2015)
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| Budget Amount *help |
¥2,300,000 (Direct Cost: ¥2,300,000)
Fiscal Year 2015: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
Fiscal Year 2014: ¥1,100,000 (Direct Cost: ¥1,100,000)
Fiscal Year 2013: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
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| Keywords | 原子間力顕微鏡 / 組成分析 / 化学組成 / AFM / SPM / 同定 / 組成像 / フォーススペクストロスコピー / 元素同定 / カラーAFM |
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| Outline of Annual Research Achievements |
走査型力顕微鏡のヘッド部分の改良を行い、原子分解能の得られる率を高めた。
計測されたデータからモースパラメータを算出するアルゴリズムを改良し、いままで1ピクセルあたり１秒程度かかっていたものを、１／５００秒程度に短縮した。その結果、通常の走査速度である、１ライン（５００ピクセル）を１秒で走査した場合、ほぼリアルタイムのモースパラメータ同定が可能となった。
急冷したシリコン（１１１）の準安定面を観察したところ、様々なモースパラメータを有する原子分解能の像が得られた。
特記すべきこととして、減衰長Lが１０pm程度の分解能で演算され、その違いが原子ごとの色の差異を生んでいた点である。
その際、最小ポテンシャル値Ｅｂの大きな差は認められなかった。おそらく、準安定なシリコン表面の大部分はシリコン原子が存在し、減衰長の違いだけが色のコントラストを生んでいたと考えられる。今後、減衰長に差異のある理由を考察するとともに、多種類の原子からなる表面の観察を行う。
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| Research Progress Status |
27年度が最終年度であるため、記入しない。
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| Strategy for Future Research Activity |
27年度が最終年度であるため、記入しない。
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