Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs
| Project/Area Number |
18500039
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Computer system/Network
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| Research Institution | The University of Tokushima |
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Principal Investigator |
HASHIZUME Masaki The University of Tokushima, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 (40164777)
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| Project Period (FY) |
2006 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥4,030,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥630,000)
Fiscal Year 2008: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000)
Fiscal Year 2007: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000)
Fiscal Year 2006: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,300,000)
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| Keywords | SoC, SiP / ディペンダブルコンピューティング / 断線 / 短絡 / 電流テスト / SoC / SiP / CMOS / リード浮き / マイクロコンピュータ |
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| Research Abstract |
SoC(System on a Chip), SiP(System in Package)というICおよびそれらを用いた回路製造時に断線や短絡故障が発生する。近年, それらの応用製品の高信頼化要求が高まり, それらの故障を確実に発見する検査法の開発が求められている。本研究ではIC, 回路への電源電流測定によりそれを実現する検査法と検査回路の開発を行い, 従来では見逃す故障も発見できることを明らかにした。
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Report
(4 results)
Research Products
(62 results)
