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pn接合を有するGaN系パワー半導体の電流リーク機構に関する研究

Research Project

Project/Area Number 18J12845
Research Category

Grant-in-Aid for JSPS Fellows

Allocation TypeSingle-year Grants
Section国内
Research Field Electronic materials/Electric materials
Research InstitutionNagoya University
Research Fellow 宇佐美 茂佳  名古屋大学, 工学研究科, 特別研究員(DC2)
Project Period (FY) 2018-04-25 – 2020-03-31
Project Status Completed (Fiscal Year 2018)
Budget Amount *help
¥1,500,000 (Direct Cost: ¥1,500,000)
Fiscal Year 2018: ¥800,000 (Direct Cost: ¥800,000)
Keywords窒化ガリウム / pnダイオード / 貫通転位 / リーク電流 / エミッション顕微鏡 / エッチピット法 / STEM分析 / 三次元アトムプローブ
Outline of Annual Research Achievements

GaNのパワー半導体デバイス応用に際して貫通転位の影響調査が必須である。本研究は転位に関してほぼ調査されていないpnダイオードに着目し、高電界印加時にリーク電流を発生させる貫通転位の特定と、特定の転位をリーク源とする要因に関して調査を行った。前年度までにエミッション顕微鏡、エッチピット法、STEM観察を組み合わせることでリークを引き起こす貫通転位種を螺旋転位と特定したが、その後の成長条件依存性の調査からナノパイプもリーク源となることが明らかとなった。しかしながら、全ての螺旋転位、ナノパイプがリークを発生するわけではなく、リークしない螺旋転位、ナノパイプが存在することが同時に示された。何がリークを決定させる要因なのかが分かれば、転位でのリークを根本から解消することも可能と考えられる。
本研究では、まず転位と転位周りの不純物に着目し3次元アトムプローブ(3DAP)にて調査を行った。エッチピット法では転位種を反映してその形状が変化するため、転位種を形状で分類できる。現時点で螺旋転位と判定されているエッチピット形状のうち、リークに寄与するものと寄与しないものの2つを選定し、n型ドリフト層内における転位周りの不純物を3DAPにて分析した。リークへの寄与に関わらずMgが転位に沿って上部のp層から拡散している様子が観察された。それ以外の不純物(O、C)は検出下限以下であった。ゆえに、リークと転位周りの不純物に相関はなく、リークを決定する要因が不純物でないことが示された。本成果はp層からのMg拡散とリークとの関係を否定するものであり、pn接合を有するデバイスに有用な知見と言える。不純物以外に転位をリーク源とする要因としては、転位の持つバーガースベクトル、転位のコア構造、転位周りの点欠陥または転位の伝搬角度の差等が候補として考えられ、ナノパイプ含め引き続き調査が必要である。

Research Progress Status

翌年度、交付申請を辞退するため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

翌年度、交付申請を辞退するため、記入しない。

Report

(1 results)
  • 2018 Annual Research Report

Research Products

(9 results)

All 2019 2018

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results,  Open Access: 1 results) Presentation (7 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results)

  • [Journal Article] Correlation between nanopipes formed from screw dislocations during homoepitaxial growth by metal-organic vapor-phase epitaxy and reverse leakage current in vertical p-n diodes on a free-standing GaN substrates2019

    • Author(s)
      S. Usami, A. Tanaka, H. Fukushima, Y. Ando, M. Deki, S. Nitta, Y. Honda, and H. Amano
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 印刷中

    • Related Report
      2018 Annual Research Report
    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Correlation between dislocations and leakage current of p-n diodes on a free-standing GaN substrate2018

    • Author(s)
      Usami Shigeyoshi、Ando Yuto、Tanaka Atsushi、Nagamatsu Kentaro、Deki Manato、Kushimoto Maki、Nitta Shugo、Honda Yoshio、Amano Hiroshi、Sugawara Yoshihiro、Yao Yong-Zhao、Ishikawa Yukari
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 112 Pages: 182106-1

    • DOI

      10.1063/1.5024704

    • Related Report
      2018 Annual Research Report
    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Presentation] GaN自立基板上pnダイオードの逆方向リーク電流と貫通螺旋転位周りに存在するMgとの関係2019

    • Author(s)
      宇佐美 茂佳, 田中 敦之, 間山 憲仁, 戸田 一也, 菅原 義弘, 姚 永昭, 石川 由加里, 安藤 悠人, 出来 真斗, 新田 州吾, 本田 善央, 天野 浩
    • Organizer
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • Related Report
      2018 Annual Research Report
  • [Presentation] GaN自立基板上pnダイオードの逆方向リーク電流とナノパイプ壁面に存在する不純物との関係2019

    • Author(s)
      宇佐美 茂佳, 田中 敦之, 福島 颯太, 安藤 悠人, 出来 真斗, 新田 州吾, 本田 善央, 天野 浩
    • Organizer
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • Related Report
      2018 Annual Research Report
  • [Presentation] 深堀メサ型GaN縦型pnダイオード絶縁破壊電界の貫通転位密度依存性2019

    • Author(s)
      宇佐美 茂佳, 田中 敦之, 福島 颯太, 安藤 悠人, 出来 真斗, 新田 州吾, 本田 善央, 天野 浩
    • Organizer
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • Related Report
      2018 Annual Research Report
  • [Presentation] Investigation of the origin of the leakage of pn diodes on a freestanding GaN substrate using 3DAP and LACBED methods2018

    • Author(s)
      S. Usami, Y. Sugawara, Y. Yao, Y. Ishikawa, N. Mayama, K. Toda, Y. Ando, A. Tanaka, K. Nagamatsu, M. Deki, M. Kushimoto, S. Nitta, Y. Honda, and H. Amano
    • Organizer
      Compound Semiconductor Week 2018
    • Related Report
      2018 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Dependency of the reverse leakage current on the MOVPE growth pressure of vertical pn diodes on a GaN free-standing substrate2018

    • Author(s)
      S. Usami, A. Tanaka, H. Fukushima, Y. Ando, M. Deki, M. Kushimoto, S. Nitta, Y. Honda, and H. Amano
    • Organizer
      Internatinal Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-7
    • Related Report
      2018 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] GaN 自立基板上pn ダイオード逆方向リーク電流の成長条件依存性II2018

    • Author(s)
      宇佐美 茂佳, 福島 颯太, 安藤 悠人, 田中 敦之, 久志本 真希, 出来 真斗, 新田 州吾, 本田 善央, 天野 浩
    • Organizer
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • Related Report
      2018 Annual Research Report
  • [Presentation] Screw dislocations and nanopipe generation in a MOVPE-grown homoepitaxial layer on freestanding GaN substrates and the electrical influence on vertical p-n diodes2018

    • Author(s)
      S. Usami, A. Tanaka, H. Fukushima, Y. Ando, M. Deki, M. Kushimoto, S. Nitta, Y. Honda, and H. Amano
    • Organizer
      Internatinal Workshop on Nitride Semiconductors 2018
    • Related Report
      2018 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2018-05-01   Modified: 2019-12-27  

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