Near-field Raman Spectroscopy with wavelength resolution
Project/Area Number |
19710080
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Research Category |
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Research Field |
Nanostructural science
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Research Institution | Osaka University |
Principal Investigator |
SAITO Yuika Osaka University, 大学院工学研究科, 特任講師 (90373307)
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Project Period (FY) |
2007 – 2008
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Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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Budget Amount *help |
¥3,610,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥210,000)
Fiscal Year 2008: ¥910,000 (Direct Cost: ¥700,000、Indirect Cost: ¥210,000)
Fiscal Year 2007: ¥2,700,000 (Direct Cost: ¥2,700,000)
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Keywords | ナノ構造化学 / ラマン分光 / 近接場顕微鏡 / 偏光 / 表面プラズモン / 近接場分光 / ナノイメージング / 走査プローブ顕微鏡 / ナノフォトニクス / 波数 |
Research Abstract |
近接場顕微鏡は光を用いて非破壊的に観測を行ないながら、光の波長よりも小さいナノメートルスケールの空間分解能で物質の形状を捉えることができる。この顕微鏡が光を用いているという利点を活かして、試料から多くの化学的情報を引き出すために、空間分解能のみならず波数分解能を高めた近接場ラマン顕微鏡を作製した。この顕微鏡を用いて種々の半導体材料のナノスケール評価を行なった。また近接場顕微鏡探針の入射光共鳴波長をコントロールする方法を同時に開発した。
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Report
(3 results)
Research Products
(25 results)
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[Journal Article] Active Control of the Oxidization of a Silicon Cantilever for the Characterization of Silicon-based Semiconductors2008
Author(s)
Ono A, Masui K, Saito Y, Sakata T, Taguchi A, Motohashi M, Ichimura T, Ishitobi T, Tarun A, Hayazawa N, Verma P, Inouye Y, Kawata S
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Journal Title
Chemistry Letters 37
Pages: 122-123
NAID
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[Journal Article] Active Control of the Oχidization of a Silicon Cantilever for the Characterization ofSilicon・based Semiconductors2008
Author(s)
Atsushi Ono, K.Masui, Y.Saito, T.Sakata, A.Taguchi, M.Motohashi, T.Ichmiura, H.Ishitobi, A.Tarun, N.Hayazawa, P.Verma, Y.Inouye, S.Kawata
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Journal Title
Chemistry letters 37
Pages: 122-123
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