| Project/Area Number |
19760047
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Research Field |
Applied physics, general
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| Research Institution | Osaka Kyoiku University |
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Principal Investigator |
FUKAZAWA Yuuko Osaka Kyoiku University, 教育学部, 講師 (50379327)
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| Project Period (FY) |
2007 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥3,410,000 (Direct Cost: ¥3,200,000、Indirect Cost: ¥210,000)
Fiscal Year 2008: ¥910,000 (Direct Cost: ¥700,000、Indirect Cost: ¥210,000)
Fiscal Year 2007: ¥2,500,000 (Direct Cost: ¥2,500,000)
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| Keywords | イオンビーム / 表面チャネリング / ナノ材料 / 走査プローブ顕微鏡 / 結晶成長 / 電子刺激脱離 |
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| Research Abstract |
電子線照射により欠陥を与えたイオン結晶表面上に蒸着した単結晶銀薄膜の初期成長過程について, イオンビームを用いた手法により解明することを目的とし, 欠陥が生成されたイオン結晶表面の構造解析を行った。高速イオンビームを用いた, イオン結晶表面の形状変化の観察結果から欠陥が誘起した表面格子歪みが起きている可能性が示された。またイオン散乱シミュレーションを行なった結果, 表面の構造変化について定性的な説明ができることがわかった。
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