| Project/Area Number |
19760200
|
|---|
| Research Category |
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
|
| Allocation Type | Single-year Grants |
|---|
| Research Field |
電力工学・電気機器工学
|
|---|
| Research Institution | Tokai University |
|---|
Principal Investigator |
MURANO Kimitoshi Tokai University, 工学部, 准教授 (60366078)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2007 – 2008
|
| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
|
| Budget Amount *help |
¥3,550,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥150,000)
Fiscal Year 2008: ¥650,000 (Direct Cost: ¥500,000、Indirect Cost: ¥150,000)
Fiscal Year 2007: ¥2,900,000 (Direct Cost: ¥2,900,000)
|
|---|
| Keywords | 電気・電磁環境 / 感受性・イミュニティ特性 / EMC 測定 / イミュニティ試験 / 回転電磁界 / RFパルス / 環境電磁工学 / EMC測定 / 電磁環境 / 感受性 / イミュニティ特性 |
|---|
| Research Abstract |
複雑な電磁環境において,電子機器が外来電磁妨害波の影響を受けることなく正常に作動するためには,外来電磁妨害波に対する電子機器の耐性(イミュニティ)を向上させる必要がある.本研究では,複雑な電磁環境を模擬することのできる,パルス回転電磁界を用いた電子機器の放射イミュニティ試験方式を提案・開発し,その有効性を検証した.イミュニティ試験時の印加電磁界として用いるRF パルス回転電磁界の発生方法及び基本特性について検討するとともに,本方式を用いることにより電子機器のイミュニティ・感受性の弱点を特定できることを明らかにした.
|
