Research Project
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
ゆらぎには一般に、多くの標本で見られるような「典型的な」ゆらぎと、稀にしか現れない異常に大きなゆらぎがあり、後者を「大偏差」と呼ぶ。弱くしか相互作用しない自由度からなる系の場合、典型ゆらぎは通常、大数の法則と中心極限定理によって支配され、大偏差の性質も比較的よく理解されている。しかし、相互作用の強い多自由度系のゆらぎは、典型ゆらぎでも非自明であり、大偏差はさらに難しい。本研究は、強い相互作用を有し、典型ゆらぎの性質が例外的に深く理解されている界面成長の非平衡ゆらぎについて、液晶系において重点サンプリング法という手法を実装することで、大偏差の実験計測を目指すものである。
