非平衡界面ゆらぎの大偏差計測に向けた重点サンプリング法の実験実装と実現

• Project/Area Number: 20H01826
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 13010:Mathematical physics and fundamental theory of condensed matter physics-related
• Research Institution: The University of Tokyo
• Principal Investigator: 竹内 一将 東京大学, 大学院理学系研究科(理学部), 准教授 (50622304)
• Project Period (FY): 2020-04-01 – 2024-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2021)
• Budget Amount: ¥17,420,000 (Direct Cost: ¥13,400,000、Indirect Cost: ¥4,020,000); Fiscal Year 2022: ¥6,110,000 (Direct Cost: ¥4,700,000、Indirect Cost: ¥1,410,000); Fiscal Year 2021: ¥1,950,000 (Direct Cost: ¥1,500,000、Indirect Cost: ¥450,000); Fiscal Year 2020: ¥2,990,000 (Direct Cost: ¥2,300,000、Indirect Cost: ¥690,000)
• Keywords: 非平衡ゆらぎ / スケーリング則 / 大偏差 / 液晶 / 界面

Outline of Research at the Start

ゆらぎには一般に、多くの標本で見られるような「典型的な」ゆらぎと、稀にしか現れない異常に大きなゆらぎがあり、後者を「大偏差」と呼ぶ。弱くしか相互作用しない自由度からなる系の場合、典型ゆらぎは通常、大数の法則と中心極限定理によって支配され、大偏差の性質も比較的よく理解されている。しかし、相互作用の強い多自由度系のゆらぎは、典型ゆらぎでも非自明であり、大偏差はさらに難しい。本研究は、強い相互作用を有し、典型ゆらぎの性質が例外的に深く理解されている界面成長の非平衡ゆらぎについて、液晶系において重点サンプリング法という手法を実装することで、大偏差の実験計測を目指すものである。