• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

結晶特異構造およびその挙動のマルチスケール構造解析評価

計画研究

研究領域特異構造の結晶科学:完全性と不完全性の協奏で拓く新機能エレクトロニクス
研究課題/領域番号 16H06423
研究種目

新学術領域研究(研究領域提案型)

配分区分補助金
審査区分 理工系
研究機関大阪大学

研究代表者

酒井 朗  大阪大学, 基礎工学研究科, 教授 (20314031)

研究分担者 今井 康彦  公益財団法人高輝度光科学研究センター, 回折・散乱推進室, 主幹研究員 (30416375)
研究期間 (年度) 2016-06-30 – 2021-03-31
研究課題ステータス 完了 (2020年度)
配分額 *注記
60,580千円 (直接経費: 46,600千円、間接経費: 13,980千円)
2020年度: 10,010千円 (直接経費: 7,700千円、間接経費: 2,310千円)
2019年度: 10,010千円 (直接経費: 7,700千円、間接経費: 2,310千円)
2018年度: 11,830千円 (直接経費: 9,100千円、間接経費: 2,730千円)
2017年度: 11,830千円 (直接経費: 9,100千円、間接経費: 2,730千円)
2016年度: 16,900千円 (直接経費: 13,000千円、間接経費: 3,900千円)
キーワードナノビームX線回折 / 3次元逆格子マッピング / トモグラフィックマッピング解析 / 深さ分解結晶評価 / 転位 / 漏れ電流 / 逆圧電効果 / 時分割ポンプ-プローブ法 / 時分割パルス放射光回折 / ポンプ&プローブ計測 / AlGaN/GaN HEMT / 結晶性断層マッピング / Ptワイヤプロファイラ / 3次元 / トモグラフィックマッピング / 結晶性断層マッピング解析 / 3次元 / 圧電応答 / Ptワイヤプロファイラー / ナノボイド / 圧電応答特性 / 時間分解ポンプ&プローブ法 / 放射光 / 圧電応答走査プローブ顕微鏡 / 時間分解 / ポンプ&プローブ法 / X線ナノビーム回折 / 電子顕微鏡
研究成果の概要

窒化物半導体やIV族半導体の結晶・デバイスを対象に、転位やナノボイド等の特異構造に着目したマルチスケール構造解析評価を行った。放射光ナノビームX線回折を駆使して格子構造を高空間分解能かつ3次元で解析し、バッファ層やテンプレート厚膜において特異構造が誘発する結晶学的効果が明らかになった。また、各種顕微鏡法による観察の結果、転位に関わる電流漏れ現象や窒化物半導体特有の圧電物性に起因する格子変形挙動には特異構造の影響が明確に表れた。さらに、時分割その場X線回折により、窒化物半導体デバイスの逆圧電効果よる微細格子変形挙動の時分割観測に成功し、特異構造のナノ秒オーダーのダイナミクスを明らかにした。

研究成果の学術的意義や社会的意義

特異構造の物性や機能を結晶やそれを用いたデバイスへ有効活用するには、その結晶学的構造の解明が不可欠である。特に、特異構造がデバイス活性層やその周囲の結晶相に与える歪等の影響を知ることは、結晶の学理に基づいて特異構造を深く理解し、それを基板結晶やデバイスへ応用していくうえで重要である。本研究では3次元マルチスケールをキーワードに、そうした空間的構造の解明に注力した。さらに、結晶のデバイス応用を視点に入れれば、特異構造の時間的挙動に関わる知見も必要となる。本研究では特異構造の時間発展を含めた4次元構造解析にも着手しており、新たな学理構築に寄与するとともに、産業応用の観点から社会的にも意義深い。

報告書

(6件)
  • 2020 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2019 実績報告書
  • 2018 実績報告書
  • 2017 実績報告書
  • 2016 実績報告書
  • 研究成果

    (107件)

すべて 2021 2020 2019 2018 2017 2016 その他

すべて 国際共同研究 (5件) 雑誌論文 (18件) (うち国際共著 3件、 査読あり 17件、 オープンアクセス 2件、 謝辞記載あり 2件) 学会発表 (84件) (うち国際学会 33件、 招待講演 10件)

  • [国際共同研究] コーネル大学(米国)

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [国際共同研究] imec(ベルギー)

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [国際共同研究] imec(ベルギー)

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [国際共同研究] imec(ベルギー)

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [国際共同研究] imec(ベルギー)

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [雑誌論文] Local piezoelectric properties in Na-flux GaN bulk single crystals2020

    • 著者名/発表者名
      Ueda A.、Hamachi T.、Okazaki A.、Takeuchi S.、Tohei T.、Imanishi M.、Imade M.、Mori Y.、Sakai A.
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 128 号: 12 ページ: 125110-125110

    • DOI

      10.1063/5.0018336

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [雑誌論文] 窒化物半導体の極性反転と深紫外光デバイスへの応用2020

    • 著者名/発表者名
      林 侑介
    • 雑誌名

      日本結晶成長学会誌

      巻: 47 号: 3 ページ: n/a

    • DOI

      10.19009/jjacg.47-3-06

    • NAID

      130007930973

    • ISSN
      0385-6275, 2187-8366
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Local current leakage at threading dislocations in GaN bulk single crystals grown by a modified Na-flux method2019

    • 著者名/発表者名
      Hamachi Takeaki、Tohei Tetsuya、Imanishi Masayuki、Mori Yusuke、Sakai Akira
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: 5 ページ: 050918-050918

    • DOI

      10.7567/1347-4065/ab14f9

    • NAID

      210000155665

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Quantitative analysis of lattice plane microstructure in the growth direction of a modified Na-flux GaN crystal using nanobeam X-ray diffraction2019

    • 著者名/発表者名
      Shida Kazuki、Yamamoto Nozomi、Tohei Tetsuya、Imanishi Masayuki、Mori Yusuke、Sumitani Kazushi、Imai Yasuhiko、Kimura Shigeru、Sakai Akira
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: SC ページ: SCCB16-SCCB16

    • DOI

      10.7567/1347-4065/ab0d05

    • NAID

      210000155953

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Correlation between current leakage and structural properties of threading dislocations in GaN bulk single crystals grown using a Na-flux method2019

    • 著者名/発表者名
      Hamachi Takeaki、Tohei Tetsuya、Imanishi Masayuki、Mori Yusuke、Sakai Akira
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: SC ページ: SCCB23-SCCB23

    • DOI

      10.7567/1347-4065/ab1392

    • NAID

      210000156139

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Current status of nanobeam x-ray diffraction station at SPring-82019

    • 著者名/発表者名
      Imai Yasuhiko、Sumitani Kazushi、Kimura Shigeru
    • 雑誌名

      AIP Conference Proceedings

      巻: 2054 ページ: 050004-050004

    • DOI

      10.1063/1.5084622

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Depth-resolved analysis of lattice distortions in high-Ge-content SiGe/compositionally graded SiGe films using nanobeam x-ray diffraction2018

    • 著者名/発表者名
      Shida Kazuki、Takeuchi Shotaro、Tohei Tetsuya、Imai Yasuhiko、Kimura Shigeru、Schulze Andreas、Caymax Matty、Sakai Akira
    • 雑誌名

      Semiconductor Science and Technology

      巻: 33 号: 12 ページ: 124005-124005

    • DOI

      10.1088/1361-6641/aae6d9

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Facile Synthesis Route of Au-Ag Nanostructures Soaked in PEG2018

    • 著者名/発表者名
      Fodjo Essy Kouadio、Canlier Ali、Kong Cong、Yurtsever Ayhan、Guillaume Pohan Lemeyonouin Aliou、Patrice Fato Tano、Abe Masayuki、Tohei Tetsuya、Sakai Akira
    • 雑誌名

      Advances in Nanoparticles

      巻: 07 号: 02 ページ: 37-45

    • DOI

      10.4236/anp.2018.72004

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著
  • [雑誌論文] Compound Refractive Lens Optics for Microbeam X-ray Diffraction Measurements at BL13XU in SPring-82018

    • 著者名/発表者名
      Sumitani Kazushi、Imai Yasuhiko、Kimura Shigeru
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis

      巻: 24 号: S2 ページ: 306-309

    • DOI

      10.1017/s1431927618013855

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Development of compound refractive lenses made of quartz glass designed for microdiffraction system at BL13XU in SPring-82018

    • 著者名/発表者名
      Sumitani K.、Imai Y.、Kimura S.
    • 雑誌名

      Journal of Instrumentation

      巻: 13 号: 09 ページ: C09002-C09002

    • DOI

      10.1088/1748-0221/13/09/c09002

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Time response demonstration of in situ lattice deformation under an applied electric field by synchrotron-based time-resolved X-ray diffraction in polar-axis-oriented epitaxial Pb(Zr,Ti)O3 film2018

    • 著者名/発表者名
      Sato Tomoya、Ichinose Daichi、Oshima Naoya、Mimura Takanori、Nemoto Yuichi、Shimizu Takao、Imai Yasuhiko、Uchida Hiroshi、Sakata Osami、Funakubo Hiroshi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 57 号: 9 ページ: 0902B8-0902B8

    • DOI

      10.7567/jjap.57.0902b8

    • NAID

      210000149599

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Domain Switching by Applied Electric Field in (001) and (111)-epitaxial (K<inf>0.5</inf>Na<inf>0.5</inf>)NbO<inf>3</inf>Films2018

    • 著者名/発表者名
      Kawano M.、Yamada T.、Matsuo S.、Yoshino M.、Nagasaki T.、Sakata O.、Imai Y.
    • 雑誌名

      Proceedings of 2018 IEEE ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference (IFAAP 2018)

      巻: なし ページ: 1-3

    • DOI

      10.1109/isaf.2018.8463311

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 半導体結晶中特異構造の3次元微細構造解2018

    • 著者名/発表者名
      酒井 朗,鎌田祥平,志田和己,竹内正太郎,今井康彦,木村 滋
    • 雑誌名

      日本結晶成長学会誌

      巻: 45

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Leakage current analysis for dislocations in Na-flux GaN bulk single crystals by conductive atomic force microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Hamachi T.、Takeuchi S.、Tohei T.、Imanishi M.、Imade M.、Mori Y.、Sakai A.
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 123 号: 16 ページ: 161417-161417

    • DOI

      10.1063/1.5011345

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Microstructural analysis in the depth direction of a heteroepitaxial AlN thick film grown on a trench-patterned template by nanobeam X-ray diffraction2018

    • 著者名/発表者名
      Shida K.、Takeuchi S.、Tohei T.、Miyake H.、Hiramatsu K.、Sumitani K.、Imai Y.、Kimura S.、Sakai A.
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 123 号: 16 ページ: 161563-161563

    • DOI

      10.1063/1.5011291

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Control of dislocation morphology and lattice distortion in Na-flux GaN crystals2017

    • 著者名/発表者名
      Takeuchi S.、Mizuta Y.、Imanishi M.、Imade M.、Mori Y.、Sumitani K.、Imai Y.、Kimura S.、Sakai A.
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 122 号: 10 ページ: 105303-105303

    • DOI

      10.1063/1.4989647

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Tomographic mapping analysis in the depth direction of high-Ge-content SiGe layers with compositionally graded buffers using nanobeam X-ray diffraction2017

    • 著者名/発表者名
      K. Shida, S. Takeuchi, Y. Imai, S. Kimura, A. Schulze, M. Caymax, A. Sakai
    • 雑誌名

      ACS Applied Materials & Interfaces

      巻: 9 号: 15 ページ: 13726-13732

    • DOI

      10.1021/acsami.7b01309

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Microstructural analysis of an epitaxial AlN thick film/trench-patterned template by three-dimensional reciprocal lattice space mapping technique2016

    • 著者名/発表者名
      S. Kamada, S. Takeuchi, D. T. Khan, H. Miyake, K. Hiramatsu, Y. Imai, S. Kimura, A. Sakai
    • 雑誌名

      Applied Physics Express

      巻: 9 号: 11 ページ: 111001-111001

    • DOI

      10.7567/apex.9.111001

    • NAID

      210000138078

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [学会発表] Operando analysis of local strain induced by inverse piezoelectric effect in AlGaN/GaN HEMT using synchrotron radiation nanobeam X-ray diffraction2021

    • 著者名/発表者名
      A. Sakai
    • 学会等名
      SPIE Photonics West 2021, OE107, Gallium Nitride Materials and Devices XVI
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Advanced analysis of singularity structures in semiconductor materials and devices by synchrotron radiation nanobeam X-ray diffraction2021

    • 著者名/発表者名
      A. Sakai, Y. Imai, Y. Hayasahi, and T. Tohei
    • 学会等名
      Virtual Workshop on Materials Science and Advanced Electronics Created by Singularity
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Sputtered and annealed AlN templates for photonic and electronic devices2021

    • 著者名/発表者名
      Y. Hayashi, R. Chaudhuri, Y. Cho, H. G. Xing, D. Jena, H. Miyake, T. Tohei, and A. Sakai
    • 学会等名
      Virtual Workshop on Materials Science and Advanced Electronics Created by Singularity
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Space- and time-revolved synchrotron X-ray diffraction for analysis of singularity structures in semiconductor materials2021

    • 著者名/発表者名
      A. Sakai, Y. Hayashi, T. Tohei, and Y. Imai
    • 学会等名
      The 8th Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology (CGCT-8)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Structural analysis of Na-flux GaN by nanobeam X-ray diffraction: Local lattice constant variation depending on the growth sector2021

    • 著者名/発表者名
      Z. D. Wu, K. Shida, T. Hamachi, Y. Hayashi, T. Tohei, M. Imanishi, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, and A. Sakai
    • 学会等名
      The 8th Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology (CGCT-8)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Depth-resolved three-dimensional characterization of semiconductor materials using nanobeam X-ray diffraction combined with differential-aperture technique2021

    • 著者名/発表者名
      Y. Imai, K. Sumitani, S. Kimura, T. Hamachi, K. Shida, T. Tohei, H. Miyake, and A. Sakai
    • 学会等名
      The 8th Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology (CGCT-8)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] AlGaN/GaN HEMTデバイスにおける局所圧電格子変形の放射光ナノビームX線回折オペランド計測2021

    • 著者名/発表者名
      塩見 春奈、嶋田 章宏、藤平 哲也、林 侑介、金木 奨太、橋詰 保、今井 康彦、隅谷 和嗣、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] ナノビームX線回折によるHVPE-GaNバルク結晶における単独貫通転位周辺の局所歪解析2021

    • 著者名/発表者名
      濱地 威明、藤平 哲也、林 侑介、宇佐美 茂佳、今西 正幸、森 勇介、隅谷 和嗣、今井 康彦、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] ナノビームX線回折法によるNPSS上AlN厚膜の深さ分解結晶性トモグラフィック評価 第2021

    • 著者名/発表者名
      山本 望、林 侑介、濱地 威明、中西 悠太、藤平 哲也、隅谷 和嗣、今井 康彦、木村 滋、正直 花奈子、三宅 秀人、酒井 朗
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] ナノビームX線回折によるOVPE成長GaN結晶の微細構造解析2021

    • 著者名/発表者名
      栗谷 淳、藤平 哲也、濱地 威明、林 侑介、滝野 淳一、隅 智亮、宇佐美 茂佳、今西 正幸、森 勇介、隅谷 和嗣、今井 康彦、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] Analysis of stress and impurity evolution related to growth sector in Na-flux GaN by nanobeam X-ray diffraction2021

    • 著者名/発表者名
      Z. D. Wu, T. Hamachi, Y. Hayashi, T. Tohei, M. Imanishi, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, and A. Sakai
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] HVPE-GaNバルク結晶におけるa及びa+cタイプ貫通転位の3次元的伝播挙動の解析2020

    • 著者名/発表者名
      濱地 威明、藤平 哲也、林 侑介、今西 正幸、森 勇介、酒井 朗
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] N-PSS上スパッタ堆積アニールAlNテンプレートに成長させたAlN厚膜の微細構造解析2020

    • 著者名/発表者名
      山本 望、濱地 威明、林 侑介、藤平 哲也、三宅 秀人、酒井 朗
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] スパッタ法と高温アニールで作製した-c/+c AlN薄膜の電子線回折による極性判定2020

    • 著者名/発表者名
      林 侑介、野本 健斗、濱地 威明、藤平 哲也、三宅 秀人、五十嵐 信行、酒井 朗
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] HVPE-GaNバルク結晶における貫通転位の3次元的形態とバーガースベクトルの関係2020

    • 著者名/発表者名
      濱地 威明、藤平 哲也、林 侑介、今西 正幸、森 勇介、五十嵐 信行、酒井 朗
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] AlGaN/GaN HEMTデバイスにおける局所圧電格子変形の放射光ナノビームX線回折オペランド計測2020

    • 著者名/発表者名
      嶋田 章宏、塩見 春奈、藤平 哲也、林 侑介、金木 奨太、橋詰 保、今井 康彦、隅谷 和嗣、
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] Structural analysis of Na flux GaN by nanobeam X ray diffraction: Local lattice constant variation depending on the growth mode2020

    • 著者名/発表者名
      Z. D. Wu, K. Shida, T. Hamachi, Y. Hayashi, T. Tohei, M. Imanishi, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, and A. Sakai
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] OVPE法で成長した GaN バルク単結晶の微細構造解析2020

    • 著者名/発表者名
      栗谷 淳、藤平 哲也、濱地 威明、林 侑介、滝野 淳一、隅 智亮、今西 正幸、森 勇介、隅谷 和嗣、今井 康彦、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] 複合顕微鏡アプローチによる機能性結晶のマルチスケール構造・物性解析2020

    • 著者名/発表者名
      藤平哲也
    • 学会等名
      令和2年度 日本材料学会半導体エレクトロニクス部門委員会 第1回特別研究会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Structural analysis of Na-flux GaN by nanobeam X-ray diffraction2020

    • 著者名/発表者名
      Z. D. Wu, K. Shida, T. Hamachi, Y. Hayashi, T. Tohei, M. Imanishi, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, and A. Sakai
    • 学会等名
      日本結晶成長学会ナノエピ分科会「第12回ナノ構造・エピタキシャル成長講演会」
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] Systematical analysis in local lattice constant variation depending on stress and impurity evolution in Na-flux GaN2020

    • 著者名/発表者名
      Z. D. Wu, K. Shida, Y. Hayashi, T. Tohei, M. Imanishi, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, and A. Sakai
    • 学会等名
      第3回結晶工学×ISYSE 合同研究会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] ナノビームX線回折法による高Ge組成SiGe/組成傾斜SiGe/Si積層構造の深さ分解結晶性トモグラフィック評価2020

    • 著者名/発表者名
      志田和己、藤平哲也、林 侑介、隅谷和嗣、今井康彦、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Na-flux-GaN上に育成したHVPE-GaNバルク単結晶における貫通転位の形態と漏れ電流特性の評価2020

    • 著者名/発表者名
      濱地威明、藤平哲也、林 侑介、今西正幸、森 勇介、酒井 朗
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 高温熱処理したスパッタAlN膜の熱歪解析2020

    • 著者名/発表者名
      林 侑介、上杉謙次郎、正直花奈子、三宅秀人、藤平哲也、酒井 朗
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 高Ge添加NaフラックスGaN結晶の特異構造解析2020

    • 著者名/発表者名
      古賀一朗、林 侑介、藤平哲也、佐藤 隆、三好直哉、村上明繁、皿山正二、今井康彦、隅谷和嗣、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      応用物理学会関西支部2019年第3回支部講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Oxide-Vapor-Phase-Epitaxy法で成長したGaNバルク単結晶の微細構造解析2020

    • 著者名/発表者名
      栗谷 淳、藤平哲也、志田和己、濱地威明、林 侑介、滝野淳一、隅 智亮、今西正幸、森 勇介、隅谷和嗣、今井康彦、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      応用物理学会関西支部2019年第3回支部講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Nano-patterned sapphire substrate上のスパッタ堆積アニールAlNテンプレートを用いたAlN厚膜の欠陥構造解析2020

    • 著者名/発表者名
      山本 望、濱地威明、林 侑介、藤平哲也、三宅秀人、酒井 朗
    • 学会等名
      応用物理学会関西支部2019年第3回支部講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Operando analysis of local piezoelectric lattice distortion in AlGaN/GaN HEMT devices using synchrotron radiation nanobeam X-ray diffraction2019

    • 著者名/発表者名
      Ueda A、Shiomi H、Tohei T、Ando Y、Hashizume T、Imai Y、Sumitani K、Kimura S、Sakai A
    • 学会等名
      13th International Conference on Nitride Semiconductors
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Multilateral investigation of electrical and microstructural properties of threading dislocations in Na-flux-grown GaN crystals2019

    • 著者名/発表者名
      Hamachi T、Tohei T、Imanishi M、Mori Y、Sakai A
    • 学会等名
      13th International Conference on Nitride Semiconductors
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Fabrication of +c/-c AlN Structure toward IR Wavelength Conversion2019

    • 著者名/発表者名
      Hayashi Y、Uesugi K、Shojiki K、Katayama R、 Sakai A、Miyake H
    • 学会等名
      8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Defect structure analysis of OVPE grown homoepitaxial GaN thick film2019

    • 著者名/発表者名
      Tohei T、Manabe M、Takino J、Sumi T、Imanishi M、Mori Y、Sakai A
    • 学会等名
      The 9th Asia-Pacific Workshop on Widegap Semiconductors (APWS2019)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Depth-resolved three-dimensional characterization of semiconductors using nanobeam X-ray diffraction combined with a differential-aperture technique2019

    • 著者名/発表者名
      Imai Y、Sumitani K、Kimura S、Shida K、Tohei T、Sakai A
    • 学会等名
      The 8th Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] HVPE-GaNバルク単結晶中貫通転位における漏れ電流特性に及ぼす転位構造の影響2019

    • 著者名/発表者名
      濱地威明、藤元聖人、藤平哲也、林 侑介、今西正幸、森 勇介、酒井 朗
    • 学会等名
      第2回結晶工学×ISYSE 合同研究会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Microstructure analysis of FFC-GaN crystal2019

    • 著者名/発表者名
      Wu Zhendong、Shida Kazuki、Hamachi Takeaki、Tohei Tetsuya、Hayashi Yusuke、Imanishi Masayuki、Mori Yusuke、Sumitani Kazushi、Imai Yasuhiko、Kimura Shigeru、Sakai Akira
    • 学会等名
      応用物理学会関西支部2019年第2回支部講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] HVPE-GaNバルク単結晶における貫通転位の構造と漏れ電流の関連性2019

    • 著者名/発表者名
      濱地威明、藤元聖人、藤平哲也、林 侑介、今西正幸、森 勇介、酒井 朗
    • 学会等名
      第3回電子材料若手交流会(ISYSE)研究会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 組成傾斜層を有するSi基板上高Ge組成SiGe膜の深さ分解ナノビームX線回折評価2019

    • 著者名/発表者名
      志田和己、藤平哲也、林 侑介、隅谷和嗣、今井康彦、木村 滋、酒井 朗
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] ハイドライド気相成長GaNバルク単結晶の 単独貫通転位における漏れ電流評価2019

    • 著者名/発表者名
      濱地威明、藤元聖人、藤平哲也、林 侑介、今西正幸、森 勇介、酒井 朗
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 近赤外波長変換に向けた+c AlN/-c AlN構造の作製2019

    • 著者名/発表者名
      林 侑介、上杉謙次郎、正直花奈子、片山竜二、酒井 朗、三宅秀人
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] NaフラックスGaNバルク単結晶における貫通転位の結晶構造と漏れ電流の関連性2019

    • 著者名/発表者名
      濱地威明、藤平哲也、今西正幸、森 勇介、酒井 朗
    • 学会等名
      第11回ナノ構造・エピタキシャル成長講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 放射光ナノビームX線回折を用いた半導体材料・デバイスの構造解析2019

    • 著者名/発表者名
      酒井朗,志田和己,植田瑛,藤平哲也,今井康彦,隅谷和嗣,木村滋
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会,結晶工学×放射光シンポジウム
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 放射光ナノビームX線回折による窒化物半導体HEMTデバイスにおける圧電応答局所格子変形の直接観測2019

    • 著者名/発表者名
      植田瑛,藤平哲也,安藤祐也,橋詰保,今井康彦,隅谷和嗣,木村滋,酒井朗
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] 放射光ナノビームX線回折による窒化物半導体HEMTデバイスにおける圧電応答局所格子変形ダイナミクスの観測2019

    • 著者名/発表者名
      植田瑛、藤平哲也、安藤祐也、橋詰保、今井康彦、隅谷和嗣、木村滋、酒井朗
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] NaフラックスGaNバルク単結晶の単独転位における漏れ電流特性とバーガースベクトルの解析2019

    • 著者名/発表者名
      濱地 威明, 藤平 哲也, 今西 正幸, 森 勇介, 酒井 朗
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] OVPE法によるホモエピタキシャルGaN厚膜の欠陥構造評価2019

    • 著者名/発表者名
      真鍋海希,藤平哲也 , 滝野淳一, 隅智亮, 今西正幸, 森勇介, 酒井朗
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Three-dimensional Analysis of Defect-related Singularity Structures in Semiconductor Materials2018

    • 著者名/発表者名
      Sakai A, Takeuchi S, Shida K, Kamada S, Tohei T, Imai Y, Kimura S, Miyake H, Hiramatsu K
    • 学会等名
      OIST-Singularity Project Joint Workshop
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Three-dimensional structural and defect analysis by nanobeam X-ray diffraction for semiconductor materials2018

    • 著者名/発表者名
      Sakai A
    • 学会等名
      THERMEC'2018
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Defect characterization in nitride semiconductor bulk materials2018

    • 著者名/発表者名
      Sakai A
    • 学会等名
      The International Workshop on Nitride Semiconductors 2018
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Dislocation Properties in Bulk GaN Substrates2018

    • 著者名/発表者名
      Sakai A
    • 学会等名
      IDGN-4
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Nanobeam X-ray Diffraction Analysis of Local Lattice Distortions in the Growth Direction of a Modified Na-Flux GaN Bulk Crystal2018

    • 著者名/発表者名
      Shida K, Takeuchi S, Tohei T, Imanishi M, Mori Y, Sumitani K, Imai Y, Kimura S, Sakai A
    • 学会等名
      International Symposium on Growth of III-Nitrides (ISGN-7)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Leakage current analysis for individual dislocations in the modified Na-flux GaN bulk single crystal2018

    • 著者名/発表者名
      Hamachi T, Takeuchi S, Tohei T, Imanishi M, Mori Y, Sakai A
    • 学会等名
      International Symposium on Growth of III-Nitrides (ISGN-7)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Quantitative analysis of lattice plane microstructure in the growth direction of a modified Na-flux GaN crystal using nanobeam X-ray diffraction2018

    • 著者名/発表者名
      Shida K, Tohei T, Imanishi M, Mori Y, Sumitani K, Imai Y, Kimura S, Sakai A
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN2018)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Local electrical and structural analysis for threading dislocations in the modified Na-flux GaN bulk single crystals2018

    • 著者名/発表者名
      Hamachi T, Tohei T, Imanishi M, Mori Y, Sakai A
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN2018)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Tomographic mapping analysis of lattice distortions in the depth direction of high-Ge-content SiGe films with compositionally graded buffer layers using nanobeam X-ray diffraction2018

    • 著者名/発表者名
      Shida K,Takeuchi S, Tohei T, Imai Y, Kimura S, Schulze A, Caymax M, Sakai A
    • 学会等名
      1st Joint ISTDM/ICSI 2018 Conference
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] ナノビームX線回折法による改良型NaフラックスGaNバルク単結晶の深さ方向結晶構造解析2018

    • 著者名/発表者名
      志田和己,山本望,藤平哲也,今西正幸,森勇介,隅谷和嗣,今井康彦,木村滋,酒井朗
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] 改良型NaフラックスGaN単結晶内単独転位の漏れ電流特性解析2018

    • 著者名/発表者名
      濱地威明,藤平哲也,今西正幸,森勇介,酒井朗
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] 圧電応答顕微鏡法によるNaフラックス成長GaN単結晶の局所圧電物性解析圧電応答顕微鏡法によるNaフラックス成長GaN単結晶の局所圧電物性解析2018

    • 著者名/発表者名
      植田瑛, 竹内正太郎, 藤平哲也, 今西正幸, 森勇介, 酒井朗
    • 学会等名
      平成30年度応用物理学会第2回関西支部講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] OVPE法によるホモエピタキシャルGaN厚膜の欠陥構造評価2018

    • 著者名/発表者名
      真鍋海希,藤平哲也,滝野淳一,隅智亮,今西正幸,森勇介,酒井朗
    • 学会等名
      平成30年度応用物理学会第2回関西支部講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] 窒化物半導体中の格子欠陥が生み出す特異構造の3次元解析2018

    • 著者名/発表者名
      酒井朗,志田和己,竹内正太郎,藤平哲也,今井康彦,木村滋
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] ナノビームX線回折を用いた組成傾斜層を有する高Ge組成SiGe膜の結晶深さ方向格子面微細構造トモグラフィック解析2018

    • 著者名/発表者名
      志田和己,竹内正太郎,藤平哲也,今井康彦,木村滋,Schluze Andreas,Caymax Matty,酒井朗
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] 改良型Na フラックスGaN 単結晶内の単独転位における漏れ電流特性評価2018

    • 著者名/発表者名
      濱地威明,竹内正太郎,藤平哲也, 今西正幸, 今出完, 森勇介, 酒井朗
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] 白金細線を回折ビームプロファイラーとして用いた深さ分解ナノビームX線回折法の開発2018

    • 著者名/発表者名
      今井康彦,木村滋
    • 学会等名
      第31回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] ルチル型TiO2単結晶の酸素空孔分布による抵抗変化の繰返し特性2017

    • 著者名/発表者名
      清水拓磨、竹内正太郎、酒井朗
    • 学会等名
      第64回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      パシフィコ横浜(神奈川県・横浜市)
    • 年月日
      2017-03-14
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] ルチル型TiO2単結晶メモリスタ素子の抵抗変化領域における価電子状態解析2017

    • 著者名/発表者名
      山口賢吾、竹内正太郎、五十嵐信行、酒井朗
    • 学会等名
      第64回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      パシフィコ横浜(神奈川県・横浜市)
    • 年月日
      2017-03-14
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] 金細線パターンを用いたナノビームX線回折のための試料位置でのゴニオメータ偏芯量評価2017

    • 著者名/発表者名
      今井康彦、隅谷和嗣、木村滋
    • 学会等名
      第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • 発表場所
      神戸芸術センター(兵庫県・神戸市)
    • 年月日
      2017-01-07
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] Characterization of local piezoelectric property in Na-flux GaN bulk single crystals2017

    • 著者名/発表者名
      Ueda A, Takeuchi S, Tohei T, Imanishi M, Imade M, Mori Y, Sakai A
    • 学会等名
      29th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS29)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] In depth microstructural analysis of heteroepitaxial AlN thick films grown on trench-patterned templates by nanobeam X-ray diffraction2017

    • 著者名/発表者名
      Shida K, Takeuchi S, Tohei T, Miyake H, Hiramatsu K, Sumitani K, Imai Y, Kimura S, Sakai A
    • 学会等名
      29th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS29)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Leakage current analysis for dislocations in Na-flux GaN bulk single crystals by conductive atomic force microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Hamachi T, Takeuchi S, Tohei T, Imanishi M, Imade M, Mori Y, Sakai A
    • 学会等名
      29th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS29)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Nano beam X-ray diffraction analysis of Na flux GaN bulk crystals grown with controlling seed crystal surfaces and growth mode2017

    • 著者名/発表者名
      Takeuchi S, Mizuta Y, Imanishi M, Imade M, Mori Y, Imai Y, Kimura S, Sakai A
    • 学会等名
      The 12th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-12)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Control of dislocation propagation behaviors in Na-flux GaN bulk crystals2017

    • 著者名/発表者名
      Takeuchi S, Mizuta Y, Imanishi M, Imade M, Imai Y, Kimura S, Mori Y, Sakai A
    • 学会等名
      The 12th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-12)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] ナノビームX線回折法による高Ge組成SiGe/組成傾斜SiGeの結晶深さ方向断層マッピング解析2017

    • 著者名/発表者名
      志田和己,竹内正太郎,今井康彦,木村滋,Andreas Schulze,Matty Caymax,酒井朗
    • 学会等名
      応用物理学会結晶工学分科会 第6回結晶工学未来塾
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] NaフラックスGaN単結晶内の孤立転位に起因した局所漏れ電流特性評価2017

    • 著者名/発表者名
      濱地威明, 竹内正太郎, 今西正幸, 今出完, 森勇介, 酒井朗
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] 圧電応答顕微鏡法によるNa フラックスGaN 単結晶の局所圧電物性解析2017

    • 著者名/発表者名
      植田瑛, 竹内正太郎, 今西正幸, 今出完, 森勇介, 酒井朗
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] ナノビームX線回折法による周期溝加工基板上AlN厚膜の結晶深さ方向構造解析2017

    • 著者名/発表者名
      志田和己,竹内正太郎,三宅秀人,平松和政,隅谷和嗣,今井康彦,木村滋,酒井朗
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] Reversible resistive switching by the voltage-driven control of oxygen vacancy distribution in four terminal planar TiO2-x-based devices2016

    • 著者名/発表者名
      T. Shimizu, M. Shimotani, S. Takeuchi, A. Sakai
    • 学会等名
      The 20th SANKEN International The 15th SANKEN Nanotechnology Symposium
    • 発表場所
      Knowledge Capital Congres Convention Center (Osaka・Osaka)
    • 年月日
      2016-12-12
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Lattice plane microstructure analysis of Na-flux GaN bulk crystals by nanobeam X-ray diffraction2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Mizuta, S. Takeuchi, M. Imanishi, M. Imade, Y. Imai, S. Kimura, Y. Mori, A. Sakai
    • 学会等名
      The 20th SANKEN International The 15th SANKEN Nanotechnology Symposium
    • 発表場所
      Knowledge Capital Congres Convention Center (Osaka・Osaka)
    • 年月日
      2016-12-12
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Tomographic mapping analysis of high Ge composition SiGe layers with compositionally graded buffers by Nanobeam X-ray diffraction2016

    • 著者名/発表者名
      K. Shida, S. Takeuchi, Y. Imai, S. Kimura, A. Shulze, M. Caymax, A. Sakai
    • 学会等名
      The 7th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials
    • 発表場所
      Hawaii (USA)
    • 年月日
      2016-11-21
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Nano beam X-ray diffraction analysis of microstructures in Na-flux GaN bulk crystals grown with controlling seed crystal surfaces and growth mode2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Mizuta, S. Takeuchi, M. Imanishi, M. Imade, Y. Imai, S. Kimura, Y. Mori, A. Sakai
    • 学会等名
      The 7th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials
    • 発表場所
      Hawaii (USA)
    • 年月日
      2016-11-21
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Demonstration of reversible resistive switching by the control of oxygen vacancy distribution in rutile TiO2-x single crystals2016

    • 著者名/発表者名
      T. Shimizu, M. Shimotani, S. Takeuchi, A. Sakai
    • 学会等名
      The 7th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials
    • 発表場所
      Hawaii (USA)
    • 年月日
      2016-11-21
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Synchrotron nano-beam X-Ray diffraction at SPring-82016

    • 著者名/発表者名
      Y. Imai, K. Sumitani, S. Kimura
    • 学会等名
      The 7th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials
    • 発表場所
      Hawaii (USA)
    • 年月日
      2016-11-21
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Three-dimensional reciprocal space mapping analysis for localized structures and defects in nitride semiconductor materials2016

    • 著者名/発表者名
      A. Sakai, T. Takeuchi
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2016)
    • 発表場所
      Florida (USA)
    • 年月日
      2016-10-02
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] X線マイクロ回折による種結晶表面・成長モード制御NaフラックスGaNの微視的結晶構造解析2016

    • 著者名/発表者名
      水田祐貴、竹内正太郎、今西正幸、今出完、今井康彦、木村滋、森勇介、酒井朗
    • 学会等名
      第77回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      朱鷺メッセ(新潟県・新潟市)
    • 年月日
      2016-09-13
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] ルチル型TiO2単結晶の酸素空孔分布制御と抵抗変化特性2016

    • 著者名/発表者名
      清水拓磨、竹内正太郎、酒井朗
    • 学会等名
      第77回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      朱鷺メッセ(新潟県・新潟市)
    • 年月日
      2016-09-13
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] An automatic sample positioning system for nano-beam X-ray diffraction multi-scale mapping2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Imai
    • 学会等名
      13th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP2016)
    • 発表場所
      Brno (Czech Republic)
    • 年月日
      2016-09-04
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Nanobeam X-ray diffraction for tomographic mapping analysis of high Ge content Si1-yGey/compositionally graded Si1-xGex stacked structure2016

    • 著者名/発表者名
      K. Shida, S. Takeuchi, Y. Imai, S. Kimura, A. Shulze, M. Caymax, A. Sakai
    • 学会等名
      The 20th SANKEN International The 15th SANKEN Nanotechnology Symposium
    • 発表場所
      Knowledge Capital Congres Convention Center (Osaka・Osaka)
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会

URL: 

公開日: 2016-07-04   更新日: 2022-01-27  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi