| 研究領域 | カーボンナノチューブナノエレクトロニクス |
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| 研究課題/領域番号 |
19054010
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| 研究種目 |
特定領域研究
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 審査区分 |
理工系
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
山田 啓文 京都大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (40283626)
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| 研究分担者 |
小林 圭 京都大学, 産官学連携本部, 助教 (40335211)
野田 啓 京都大学, 工学研究科, 助教 (30372569)
宮戸 祐治 大阪大学, 基礎工学研究科, 助教 (80512780)
佐藤 宣夫 京都大学, 工学研究科, 助教 (70397602)
石田 謙司 神戸大学, 工学研究科, 准教授 (20303860)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
77,400千円 (直接経費: 77,400千円)
2011年度: 11,500千円 (直接経費: 11,500千円)
2010年度: 17,700千円 (直接経費: 17,700千円)
2009年度: 17,800千円 (直接経費: 17,800千円)
2008年度: 16,200千円 (直接経費: 16,200千円)
2007年度: 14,200千円 (直接経費: 14,200千円)
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| キーワード | カーボンナノチューブ / 原子間力顕微鏡(AFM) / ケルビンプローブAFM / 周波数変調(FM)検出法 / 高分解能マルチプローブAFM / 密度勾配遠心分離 / 誘電泳動 / 3次元フォースマップ / 表面電位計測 / AFMポテンショメトリー / 走査ゲート顕微鏡 / 高分解能マルチプローブ技術 / AFMポテンショメトー / 高分解能マルチプローブ計測 / 表面電位 / 点接触AFM |
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| 研究概要 |
カーボンナノチューブ(CNT)デバイスにおける動作機構解析のためには、動作状態にあるCNTの電気・機械特性評価が本質的に重要となる。本研究では、動作状態にあるCNTデバイスの局所領域における特性解析に向けて、AFMをベースとする新規高分解能ナノプローブ電気計測法の開発を行い、欠陥評価に有効な各点ストロボ走査型ゲート顕微鏡や周辺電荷の影響を受けない電位測定を可能とする高周波静電気力顕微鏡を開発した。
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