| 研究領域 | 配位プログラミング ― 分子超構造体の科学と化学素子の創製 |
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| 研究課題/領域番号 |
21108004
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| 研究種目 |
新学術領域研究(研究領域提案型)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 審査区分 |
理工系
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| 研究機関 | 京都工芸繊維大学 (2010-2013)
(財)高輝度光科学研究センター (2009) |
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研究代表者 |
佐々木 園 京都工芸繊維大学, 工芸科学研究科, 准教授 (40304745)
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| 研究分担者 |
増永 啓康 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門・動的構造チーム, 研究員 (50398468)
小川 紘樹 (小川 絋樹) 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門・動的構造チーム, 研究員 (00535180)
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| 研究期間 (年度) |
2009-07-23 – 2014-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
46,540千円 (直接経費: 35,800千円、間接経費: 10,740千円)
2013年度: 7,800千円 (直接経費: 6,000千円、間接経費: 1,800千円)
2012年度: 9,490千円 (直接経費: 7,300千円、間接経費: 2,190千円)
2011年度: 11,570千円 (直接経費: 8,900千円、間接経費: 2,670千円)
2010年度: 11,050千円 (直接経費: 8,500千円、間接経費: 2,550千円)
2009年度: 6,630千円 (直接経費: 5,100千円、間接経費: 1,530千円)
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| キーワード | 微小角入射X線散乱高速時間分解測定 / マイクロビームX線散乱時間分解測定 / Ｘ線の異常散乱高速時間分解測定 / 大型放射光施設SPring-8 / 有機金属錯体/高分子薄膜 / 表層分子トポロジー / 外場刺激 / 微小角入射小角・広角Ｘ線散乱法 / 放射光を利用した薄膜・表面構造のその場計測 / 線状高分子の薄膜結晶化キネティクス / 時間分割異常小角X線散乱法 / スピンコート成膜法 / 放射光GISAXS・GIWAXS法 / 有機金属錯体 / マイクロビームＸ線 / X線異常分散効果 / 高分子の薄膜結晶化 / 成膜プロセス / 放射光GISAXS/GIWAXS測定 / 高分子薄膜 / X線マイクロビーム / 時間分解測定 / 動的構造解析 / 薄膜結晶化挙動 / 電気化学計測 / 放射光X線散乱法 / マイクロビームX線 / GISAXS法 / 電気化学的特性 / 薄膜・表面構造 / 有機分子組織体・高分子薄膜材料 / 微小角斜入射小角・広角X線散乱 / 放射光マイクロビーム / 局所構造の可視化 |
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| 研究概要 |
大型放射光施設SPring-8の高輝度・高指向性X線を利用して、外場刺激下における有機金属錯体や有機高分子薄膜の ①表層や薄膜におけるドメイン・分子トポロジー可視化のための微小角入射小角・広角X線散乱(Grazing-Incidence Small-angle and Wide-Angle X-ray Scattering:GISWAXS)、②表面（界面）および深さ方向の局所構造評価のためのマイクロビームX線散乱測定、③特定の重元素やイオンに着目した構造解析が可能なX線異常分散効果を利用した小角Ｘ線散乱測定の高速時間分解計測システムをそれぞれ構築することに成功した。
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