X線吸収分光を用いたオペランド計測による構造リプログラミング解析

• 研究領域: 化学構造リプログラミングによる統合的物質合成科学の創成
• 研究課題/領域番号: 24H02217
• 研究種目: 学術変革領域研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 審査区分: 学術変革領域研究区分(Ⅱ)
• 研究機関: 東京都立大学
• 研究代表者: 山添 誠司 東京都立大学, 理学研究科, 教授 (40510243)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2029-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2025年度)
• 配分額: 88,400千円 (直接経費: 68,000千円、間接経費: 20,400千円); 2025年度: 17,680千円 (直接経費: 13,600千円、間接経費: 4,080千円); 2024年度: 17,810千円 (直接経費: 13,700千円、間接経費: 4,110千円)
• キーワード: オペランド計測 / X線吸収分光法 / 構造解析 / クラスター材料 / 電子状態解析 / クラスター / XAFS / オペランド / in-situ計測

研究開始時の研究の概要

課題(i) 分子、無機物質、巨大物質の編集体に対して、編集した原子周辺の局所構造や電子状態をX線吸収微細構造(XAFS)により解明する課題(ii) 分子・無機物質への異種元素組換え過程や反応途中における局所
構造や電子状態の変化をin-situ XAFSとUV-Vis、ラマン分光、質量分析等を組み合わせたオペランド計測によりその場観察し、SRePの鍵となる反応機構や得られた新物質の機能を原子レベルで解明する。