| 研究概要 |
粉体の粒度分布を精度よく測定することは、粉体を取り扱う分野において、基本的に重要な問題である。近年、特に微粒子を扱う分野の発達が著しくなるにつれ、微粒子の粒度分布を精度よく測定する要求がたかまっている。申請者等は精度と再現性の良い装置として、沈降天秤式粉体粒度分布測定装置(試作3号機)を開発した。この装置は、装置としての精度と再現性は申し分ないが、沈積曲線を解析する際に、通常行われている作図解析法で解析すると、解析者の個人差がでたり、解析に長時間を要する等の問題点がある。そこで、今回は作図解析法に代わるものとして数値解析を開発し、粒度分布測定の自動化を計る研究を行い次のような成果が得られた。
(1),石英粉末試料(-22μm)を用いて、粉度分布測定を行い、アナログデ-タとして得られた沈積曲線を、通常の作図解析法で解析を行い、測定の再現性を確認した。
(2),沈積曲線をデジタルデ-タとしてプリンタに出力し、フロッピ-ディスクに保存し、XYプロッタで出力できるようにした。
(3),デジタルデ-タを用いて、つぎのような数値解析法を開発した。まずスタ-トの原点位置を決定した。次に最大粒子径を決定した。さらに、各粒子径に対応する解析点近傍の曲線を回帰させるための関数形、デ-タサンプリングの数、サンプリング間隔を決定した。
(4),作図解析法と数値解析法で得られた粒度分布線図は、よく一致したことから、数値解析法は作図解析法に代わりうる方法であることが確認された。
(5),粒度分布線図をXYプロッタに描かせるプログラムも開発した。
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