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収束電子回折による結晶内原子の静的変位量の評価

研究課題

研究課題/領域番号 02650467
研究種目

一般研究(C)

配分区分補助金
研究分野 金属物性
研究機関九州大学

研究代表者

友清 芳二  九州大学, 工学部, 助教授 (40037891)

研究分担者 松村 晶  九州大学, 総合理工学研衆科, 助手 (60150520)
研究期間 (年度) 1990 – 1991
研究課題ステータス 完了 (1991年度)
配分額 *注記
2,100千円 (直接経費: 2,100千円)
1991年度: 600千円 (直接経費: 600千円)
1990年度: 1,500千円 (直接経費: 1,500千円)
キーワード収束電子線回折 / 大角度収束電子線回折 / 運動学的回折理論 / 結晶構造因子 / アルミナ / 原子位置 / 原子の静的変位 / 収束電子回折 / 大角度収束電子回折 / 原子変位 / 収束電子回析 / 大角度収束電子回析 / 構造因子 / 結晶内原子の静的変位 / アルファ・アルミナ
研究概要

結晶に関する重要なパラメタ-である結晶構造因子を電子線回折により求める方法を確立するために、まずαーAl_2O_3を例にとって、運動学的回折理論が適用できる条件、ブラッグ条件を同時に満足する複数の回折強度を試料の同一箇所から得る条件を探した。次に、大角度収束電子線回折法に注目して、αーAl_2O_3の特定の反射の結晶構造因子を求め、これから単位胞内のAl原子位置を決定することを試みた。本研究で明らかになった点は以下の通りである。
1.αーAl_2O_3の試料厚さが約350nm以下で、00l系統のl》30の高次反射であれば、その強度は厚さとともに振動することはなく、運動学的近似が成り立つ。
2.収束角度2α》35mradの入射電子線を試料の微小領域(10〜20nmφ)に照射すると8〜9個の00l反射が同時にブラッグ条件を満足し、しかも1枚のフイルムに記録できる。
3.加速電圧200kVで観測したl=36と42の2つの反射の強度比と運動学的回折理論をもとに計算したそれとを比較することにより、αーAl_2O_3のAl原子の位置を決定した。得られた結果は動力学的多波回折理論に基づく解析結果と良く一致するだけでなく、X線回折や中性子回折による過去の結果とも一致した。
4.原子位置を決めるには、原子散乱因子とB因子(熱振動の様子)の値が既知でなければならない。B因子を無視すると原子位置は約10%ずれる。試料を冷却して原子の熱振動を押さえると測定精度は向上する。
5.今回検討した手法は、αーAl_2O_3以外の結晶、例えば酸化物超伝導体にも適用可能である。フイルムの替わりに、イメ-ジングプレ-トやスロ-スキャンCCDカメラ等を使用すれば応用法はさらに拡大する。

報告書

(3件)
  • 1991 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 1990 実績報告書
  • 研究成果

    (31件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (31件)

  • [文献書誌] Y.Tomokiyo,N.Kuwano,T.Okuyama,K.Oki,S.Matumura: "Convergent-beam Electron Diffraction for Local Lattice Parameters in III-V Semiconductors" Materials Transactions-Jpn.Inst.Metals. 31. 641-646 (1990)

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  • [文献書誌] S.Matsumura K.Oki T.Okuyama Y.Tomokiyo N.Kuwana: "Dynamical Diffraction Effect on HOLZ-Pattern Geometry for Semiconductor Alloys of Si_1 _xGe_x and Ga_1 _xInAs" Proc.XIIth Int.Cong.for Electron Microscopy,Seattle. 2. 486-487 (1990)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y.Tomokiyo T.Kuroiwa: "Determination of Static Displacements of Atoms by Means of Large Angle Convergent-Beam Electron Diffraction" Proc.XIIth Int.Cong.for Electron Microscopy,Seattle. 2. 526-527 (1990)

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  • [文献書誌] A.Matsunaga Y.Tomokiyo C.Kinoshita K.Nakai: "Radiation Induced Amorphization and Swelling in Ceramics" J.Nuclear Materials. 179-181. 457-460 (1991)

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  • [文献書誌] T.Yoshino Y.Tomokiyo Y.Suyama: "TEM Observation of Microstructure in Sintered YBa_2Cu_3O_<7 x>" Advances in Superconductivity III,Eds.K.Kajimura & H.Hayakawa Springer-Verlag,Tokyo. 355-358 (1991)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Matsumura Y.Tomokiyo T.Oboshi K.Oki: "High-voltage Electron Diffraction Study of Structure Factors of Pd and Pt" Ultramicroscopy. 39. 65-71 (1991)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S. Matsumura, M. Toyohara, Y. Tomokiyo: "Strain Contrast of Coherent Precipitates in Bright-field Images Under Zone Axis Incidence" Phil. Mag.62, No. 6. 653-670 (1990)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y. Tomokiyo, T. Okuyuam, S. Matsumura, N, Kuwano: "Convergent-beam Electron Diffraction for Local Lattice Parameters In III-V Semiconductors" Mat. Trans-Jpn. Inst. Metals. 31, No. 7. 641-646 (1990)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S. Matsumura, T. Okuyama, N. Kuwano, K. Oki, Y. Tomokiyo: "Dynamical Diffraction Effect on HOLZ-Pattern Geometry for Semiconductor Alloys of Si_1 _xGe_x and Ge_<1-x>In_xAs" Proc. XIIth Int. Cong. for EM, Seattle. 2. 486-487 (1990)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y. Tomokiyo, T. Kuroiwa: "Determination of Static Displacements of Atoms by Means of Large angle convergent-Beam Electron Diffraction" Proc. XIIth Int. Cong. for EM, Seattle. 2. 526-527 (1990)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y. Suyama, Y. Tomokiyo, K. Terasaka: "Grain Boundary Structure of ZnO-Bi_2O_3-CoO Varistor" Proc. XIIth Int. Cong. for EM, Seattle. 4. 374-375 (1990)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] A. Matsunaga, C. Kinoshita, K. Nakai, Y. Tomokiyo: "Radiation Induced Amorphization and Swelling in Ceramics" J. Nuclear Materials. 179-181. 457-460 (1991)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T. Yoshino, Y. Tomokiyo, Y. Suyama: "TEM Observation of Microstructure in Sintered YBa_2Cu_3O_<7 x>" Advances in Superconductivity III.Springer-Verlag. 355-358 (1991)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S. Matsumura, T. Oboshi, K. Oki: "High-voltage electron diffraction study of structure factors of Pd and Pt" Ultramicroscopy. 39. 65-71 (1991)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y. Tomikiyo, T. Kuroiwa, C. Kinoshita: "Defects occurring at or near Surfaces of alpha-Al_2O_3 during electron irradiation" Ultramicroscopy. 39. 213-221 (1991)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y. Tomokiyo, T. Yoshino, Y. Suyama, T. Manabe, E, Tanaka: "High resolution electron microscopy of sintered YBa_2Cu_3O_<7 x>" Proc. 4th Int. Sympo. on Superconductivity. (1991)

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      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y. Tomokiyo, Y. Omori, T. Yoshino, T. Fujimoto: "Electron Diffraction of Sintered YBa_2Cu_3O_y and Detection of Local Variation of Oxygen Content" Proc. 6th Japan-China Seminar on EM. (1991)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1991 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y.Tomokiyo,N.Kuwano,T.Okuyama,K.Oki,S.Matsumura: "Convergentーbeam Electron Diffraction for Local Lattice Parameters in IIIーV emiconductors" Materials TransactionsーJapan Inst.Metals. 31. 641-646 (1990)

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      1991 実績報告書
  • [文献書誌] T.Okuyama,Y.Tomokiyo,S.Matsumura,N.Kuwano,T.Yasunaga,K.Oki: "Dynamical Diffraction Effect on HOLZーPattern Geometry for Semiconductor Alloys of Si_<1ーx>Ge_x and Ga_<1ーx>In_xAs" Proc.XIIth Int.Cong.for Electron Microscopy,Seattle,U.S.A.(1990). 2. 486-487 (1990)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Tomokiyo,T.Kuroiwa: "Determination of Static Displacements of Atoms by Means of Large Angle ConvergentーBeam Electron Diffraction" Proc.X11th Int.Cong.for Electron Microscopy,Seattle,U.S.A.(1990). 2. 526-527 (1990)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Suyama,K.Terasaka,Y.Tomokiyo: "Grain Boundary Structure of ZnOーBi_2O_3ーCoO Varistor" Proc.X11th Int.Cong.for Electron Microscopy,Seattle,U.S.A.(1990). 4. 374-375 (1990)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] S.Matsumura,Y.Tomokiyo,T.Oboshi,K.Oki: "HighーVoltage electron diffraction study of structure factors of Pd and Pt" Ultramicroscopy. 39. 65-71 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Tomokiyo,T.Kuroiwa,C.Kinoshita: "Defects occurring at or near surfaces of αーAl_2O_3 during electron irradiation" Ultramicroscopy. 39. 213-221 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] 岡田 正和編,友清 芳二,他: "多目的電子顕微鏡" 共立出版, 474 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] 日本電子顕微鏡学会関東支部編,友清 芳二,他: "先端材料評価のための電子顕微鏡技法" 朝倉書店, 382 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Tomokiyo,T.Okuyama,S.Matsumura,N.Kuwano and K.Oki: "ConvergentーBeam Electron Diffraction for Local Lattice Parameters in IIIーV Semiconductors" Mat.Trans.ーJpn.Inst.Metals.31. 641-646 (1990)

    • 関連する報告書
      1990 実績報告書
  • [文献書誌] S.Matsmura,T.Okuyama,Y.Tomokiyo,N.Kuwano and K.Oki: "Dynamical Diffraction Effect on HOLZーpattern Geometry for Semiconductor Alloys of Si_<1ーx>Ge_x and Ga_<1ーx> In_xAs" Proc.XIIth Int.Cong.for Electron Microscopy,Seattle,USA (1990). 2. 486-487 (1990)

    • 関連する報告書
      1990 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Tomokiyo and T.Kuroiwa: "Determination of Static Displacements of Atoms by Means of LargeーAngle ConvergentーBeam Electron Diffraction" Proc.XIIth Int.Cong.for Electron Microscopy Seattle,USA (1990). 2. 526-527 (1990)

    • 関連する報告書
      1990 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Suyama,Y.Tomokiyo and K.Terasaka: "Grain Boundary Structure of a ZnOーBi_2O_3ーCoO Varistor" Proc.Xth Int.Cong.for Electron Microscopy,Seattle,U.S.A.(1990). 4. 374-375 (1990)

    • 関連する報告書
      1990 実績報告書
  • [文献書誌] T.Yoshino,Y.Tomokiyo and T.Kuroiwa: "ZoneーAxis CriticalーVoltage Effect of Silicon and Diamond" Proc.Vth JapanーChina Seminar on Electron Microscopy,Urmuqi,China (1990). (1991)

    • 関連する報告書
      1990 実績報告書
  • [文献書誌] S.Matsumura,T.Ohboshi and K.Oki: "Critical Voltage Effect of Pd and Pt" Proc.Int.Sympo.on New Directions and Future Aspects of HUEM,Osaka,Japan (1990). (1991)

    • 関連する報告書
      1990 実績報告書

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公開日: 1990-04-01   更新日: 2016-04-21  

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