研究課題/領域番号 |
02650488
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研究種目 |
一般研究(C)
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配分区分 | 補助金 |
研究分野 |
金属製錬・金属化学
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研究機関 | 早稲田大学 |
研究代表者 |
加藤 榮一 早稲田大学, 理工学部, 教授 (30063233)
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研究期間 (年度) |
1990 – 1991
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研究課題ステータス |
完了 (1991年度)
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配分額 *注記 |
2,100千円 (直接経費: 2,100千円)
1991年度: 400千円 (直接経費: 400千円)
1990年度: 1,700千円 (直接経費: 1,700千円)
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キーワード | 状態図 / X線回折法 / 質量分析法 / IIーVI族化合物半導体 / 等格子定数線 |
研究概要 |
IIーVI族化合物半導体四元混晶であるCdS_xSe_yTe_<1ーxーy>系について粉末X線回折法と質量分析法によって状態図を作成した。前年度、X線回折法により700℃と800℃における状態図及び等格子定数線を作成した。また質量分析法により700℃における相境界の決定を行った。この二つの手法により、700℃において決定された相境界の位置はほぼ一致している。今年度は、X線回折法によって750℃における状態図及び等格子定数線を作成し、700℃から800℃の範囲での固相領域における状態図を作成した。750℃における状態図をFig.1に示し、700℃から800℃における状態図をFig.2に示す。この結果から、700℃と800℃の間ではウルツ鉱型六方晶間の二相領域(W_1+W_2)が、閃亜鉛鉱型立方晶とウルツ鉱型六方晶間の二相領域(W_1+W_2)が、閃亜鉛鉱型立方晶とウルツ鉱型六方晶間の二相領域(Z+W)に変態することがわかる。また750℃においては三相共存相の存在が確認された。また700℃における閃亜鉛鉱型立方晶とウルツ鉱型六方晶間の二相領域(Z+W)に存在する試料をEPMAにより分析した結果から求められた二相領域内のタイラインの傾向をFig.3に示す。
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