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スレスレ入射回折(GID)法による多層薄膜構造解析システムの開発

研究課題

研究課題/領域番号 03452293
研究種目

一般研究(B)

配分区分補助金
研究分野 結晶学
研究機関名古屋工業大学

研究代表者

虎谷 秀穂  名古屋工業大学, 工学部, 助教授 (20143662)

研究分担者 TORAYA Hideo  Nagoya Institute of Technology, Associate Professor (20143662)
研究期間 (年度) 1991 – 1993
研究課題ステータス 完了 (1993年度)
配分額 *注記
7,600千円 (直接経費: 7,600千円)
1993年度: 300千円 (直接経費: 300千円)
1992年度: 200千円 (直接経費: 200千円)
1991年度: 7,100千円 (直接経費: 7,100千円)
キーワードスレスレ入射回折 / 非対称反射 / 平行ビーム系 / 薄膜 / 表面構造 / 解析用ソフトウェアー / スレスレ入射回析 / スレスレ入射回折法 / 計算機用ソフトウェア- / 解析システム開発
研究概要

装置の開発:
鏡面反射実験のためのスレスレ入射回折(Grazing Incidence Diffraction:GID)装置を完成し、極めて優れたGIDパターンが得られることが示された。
上記回折計を改良して非対称反射実験のための回折装置光学系を開発した。
非対称反射に関する実験:
表面・薄膜の構造を解析するためには、X線の入射角を小さくしてその深さ方向の侵入を押さえなければならない。そのためには、従来の一般的方法とは異なる非対称反射を用いる。非対称反射に関する研究を放射光および本研究で開発した装置を用いて行い、放射光および本装置が採用している平行ビーム系が、非対称反射の実験に極めて適していることを示した。また、プロファイルの形・強度に関して理論・実験の両面から解析を行った。従来、非対称反射の定量的な実験は放射光を用いなけれができないと考えられていた。本研究で開発した疑似平行ビーンム系光学系を用いて、室内の実験室系での実験・解析を可能にした。
データ解析用のソフトウェアーの開発:
GIDパターン解析用ソフトウェアーの開発を行った。より使用に適した形態にするため、その開発を現在継続して行っている。

報告書

(4件)
  • 1993 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 1992 実績報告書
  • 1991 実績報告書
  • 研究成果

    (23件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (23件)

  • [文献書誌] W.Parrish,C.Erikson,T.C.Huang,虎谷 秀穂: "X-ray Reflectometry of Single- and Multi-layer Thin Films" Proceedings Mat.Res.Soc.Symp.208. 327-337 (1991)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] N.Masciocchi,虎谷 秀穂,W.Parrish: "A Theta-Dependent Error Present in Powder Data of Highly Absorbing Materials:A Surface Roughness Effect?" Materials Science Forum. 79-82. 245-250 (1991)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.C.Huang,虎谷 秀穂,T.N.Blanton,Y.Wu: "X-ray Powder Diffraction Analysis of Silver Behenate,A Possible Low-Angle Diffraction Standard" J.Appl.Cryst.26. 180-184 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 虎谷 秀穂,T.C.Huang,Y.Wu: "Asymmetric Diffraction with Parallel-Beam Synchrotron Radiation" Advances in X-ray Analysis. 36. 609-616 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 虎谷 秀穂,T.C.Huang,Y.Wu: "Intensity Enhancement in Asymmetric Diffraction with Parallel-Beam Synchrotron Radiation" J.Appl.Cryst.26. 774-777 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 虎谷 秀穂: "種々の方法を用いた粉末回折図形のバックグラウンドの決定について" セラミックス研究施設年報. 3. 13-22 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] H.Toraya: ""The Determination of Background Level of Powder Diffraction Pattern Using Various Techniques"" Annual Rep.Ceramics Res.Lab.3. 13-22 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] H.Toraya, T.C.Huang, and Y.Wu: ""Intensity Enhancement in Asymmetric Diffraction with Parallel-Beam Synchrtron Radiation"" J.Appl.Cryst.26. 774-777 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] H.Toraya, T.C.Huang, and Y.Wu: ""Asymmetric Diffraction with Parallel-Beam Synchrotron Radiation"" Adv.X-ray Anal.36. 609-616 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.C.Huang, H.Toraya, T.N.Blanton, and Y.Wu: ""X-ray Powder Diffraction Analysis of Silver Behenate, a Possible Low-Angle Diffraction Standard"" J.Appl.Cryst.26. 180-184 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] N.Masciocchi, H.Toraya, and W.Parrish: ""A Theta-Dependent Error Present in Powder Data of Highly Absorbing Materials : A surface Roughness Effect ? " ed.by R.Delhez and E.J.Mittemeijer" Mat.Sci.Forum Trans Tech Publications, Zurich. 79-82. 245-250 (1991)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] W.Parrish, C.Erickson, T.C.Huang, M.Hart, B.Gilles, and H.Toraya: ""X-ray Reflectometry of Single-and Multi-Layr Thin Films"" Symp.Proc.Adv.Suface Thin Film Diffraction, Mat.Res.Soc.Pittsburgh. 208. 327-337 (1991)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1993 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] W.Parrish,虎谷 秀穂 etc.: "X-ray Reflectometry of Single-and Multi-layer Thin Films" Proceedings Mat.Res.Soc.Symp.208. 327-337 (1991)

    • 関連する報告書
      1993 実績報告書
  • [文献書誌] Masciocchi,虎谷 秀穂 他1名: "A Theta-Dependent Error Present in Powder Data of Highly Absorbing Materials:A Surface Rousness Effect?" Materials Science Forum.79-82. 245-250 (1991)

    • 関連する報告書
      1993 実績報告書
  • [文献書誌] T.C.Huang,虎谷 秀穂 他2名: "X-ray Powder Diffraction Analysis of Silver Behenate,A Possible Law Angle Diffraction Standard" J.Appl.Cryst.26. 180-184 (1993)

    • 関連する報告書
      1993 実績報告書
  • [文献書誌] 虎谷 秀穂、T.C.Huang 他1名: "Asymmetric Diffraction with Parallel-Beam Synchrotron Radiation" Advances in X-ray Analysis. 36. 609-616 (1993)

    • 関連する報告書
      1993 実績報告書
  • [文献書誌] 虎谷 秀穂、T.C.Huang 他1名: "Intensity Enhancement in Asymmetric Diffraction with Parallel-Beam" J.Appl.Cryst.26. 774-777 (1993)

    • 関連する報告書
      1993 実績報告書
  • [文献書誌] 虎谷 秀穂: "種々の方法を用いた粉末回折図形のバックグラウンドの決定について" セラミックス研究施設年報. 3. 13-22 (1993)

    • 関連する報告書
      1993 実績報告書
  • [文献書誌] H.Toraya.: "Asymmetvic Diffraction with Parallel-Beam Synchrotron Radiation" Adv.X-ray Anal.36. (1993)

    • 関連する報告書
      1992 実績報告書
  • [文献書誌] 虎谷 秀穂: "擬似平行ビーム系を用いた非対称反射に関する研究"

    • 関連する報告書
      1992 実績報告書
  • [文献書誌] W,Parrish.,C,Erikson.,T.C.Huang.,M.Hant.,B,Gills.,H,Toraya: "Xーray Reflectometry of Singleーand Multiーlayer thin Films" Mat.Res.Soc.Symp.Proc.208. 327-337 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] N,Masciocchi.,H.Toraya.,W,Pnrrish: "A・θーDependent Error Present in Powder Data of Highly Absorbing Materials" Mat.Sci.Forum. 79ー82. 245-250 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] H.Toraya.,W,Parrish: "A ccurate Defermination of UnitーCell Parameters using Conventional Xーray Powder Diffrattometing" Proc.Pacific.Int.Cong.Xーray,Anal.Meth. (1992)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書

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公開日: 1991-04-01   更新日: 2016-04-21  

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