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大規模論理回路のテスト生成のためのニューラルネットワークに関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 03650312
研究種目

一般研究(C)

配分区分補助金
研究分野 情報工学
研究機関明治大学

研究代表者

藤原 秀雄  明治大学, 理工学部, 教授 (70029346)

研究期間 (年度) 1991 – 1992
研究課題ステータス 完了 (1992年度)
配分額 *注記
2,100千円 (直接経費: 2,100千円)
1992年度: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円)
1991年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)
キーワードニューラルネットワーク / 論理回路 / テスト生成 / VLSI / アルゴリズム / 故障検査 / ニュ-ラルネットワ-ク
研究概要

LSIの高集積化、高機能化に伴って、論理回路のテストがますます因難になってきている。特に、次世代の大規模集積回路ULSIに対するテストについて、そのテストパターンの自動生成のために、現在の方法より飛躍的に高速化された方式が必要になっている。本研究では、従来の方法とは全く異なる観点から、新しいテスト生成の方式を考案しその実現を目指してきた。ニューラルネットワークの超並列処理を利用することにより高速のテスト生成を可能にする方式を考案した。ニューラルネットワークのシミュレータを用いてテスト生成システムを構築し、ISCASベンチマーク回路に対して実験を行なった。当初から予想されていたことではあるが、ソフトウェアによるニューラルネットワークシミュレータの速度の問題があり、大規模な論理回路に対して実験することは非常に因難であることがわかった。特に、テスト生成問題では、ホップフィールドモデルでのエネルギーを最小にする最小解のみが求めるテストパターンであるので、局所解に落ち込んだ後はボルツマンモデルによる、いわゆるアニーリイングによる方法を採用したが、その収束性の速度について、回路規模が大きくなるにつれて、非常に因難となっている。本研究での本来の目的は大規模論理回路のテスト生成の高速化であるので、このニューラルネットワークによる並列処理方式とは別に、140台のワークステーションからなるネットワークの環境を利用して、テスト生成の分散並列処理方式の研究も行なった。これに関しては、理論的解析と実験による結果ともに、高い有効性、実用性が実証された。

報告書

(3件)
  • 1992 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 1991 実績報告書
  • 研究成果

    (8件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (8件)

  • [文献書誌] Hideo Fujiwara: "Three-Valued Neural Networks for Test Generation" Int.Journal of Computer Aided VLSI Design. 3. 273-290 (1991)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1992 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 藤野 貴之,藤原 秀雄: "論理回路のテスト生成のための3値ニューラルネットワークモデル" 情報処理学会論文誌. 33. 570-579 (1992)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1992 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Hideo Fujiwara: "Three-Valued Neural Networks for Test Generation" International Journal of Computer Aided VLSI Design. Vol.3. 273-290 (1991)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1992 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Fujino and H. Fujiwara: "A Model of Three-Valued Neural Networks to Generate Test Pattern for Logic Circuits" Journal of Information Processing Society of Japan. Vol.33. 570-579 (1992)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1992 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Hideo Fujiwara: "Three-Valued Neural Networks for Test Generation" Int. Journal of Computer Aided VLSI Design. 3. 273-290 (1991)

    • 関連する報告書
      1992 実績報告書
  • [文献書誌] 藤野 貴之,藤原 秀雄: "論理回路のテスト生成のための3値ニューラルネットワークモデル" 情報処理学会論文誌. 33. 570-579 (1992)

    • 関連する報告書
      1992 実績報告書
  • [文献書誌] 藤野 貴之,藤原 秀雄: "論理回路のテスト生成のための3値ニュ-ラルネットワ-クモデル" 電子情報通信学会フォ-ルトトレラントシステム研資. FTS91ー5. 33-40 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書
  • [文献書誌] Hideo Fujiwara: "ThreeーValued Nearol Networks for Test Generation" International Journal of Computer Aided VLSI Design. Vol.3,No.3. 273-290 (1991)

    • 関連する報告書
      1991 実績報告書

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公開日: 1991-04-01   更新日: 2016-04-21  

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