走査型トンネル顕微鏡による半導体表面・ヘテロ接合界面の研究

• 研究課題/領域番号: 03750207
• 研究種目: 奨励研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 電子材料工学
• 研究機関: 筑波大学
• 研究代表者: 岡田 至崇 筑波大学, 物質工学系, 助手
• 研究期間 (年度): 1991
• 研究課題ステータス: 完了 (1991年度)
• 配分額: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円); 1991年度: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円)