| 研究課題/領域番号 |
04452201
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| 研究種目 |
一般研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
電子機器工学
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
内藤 喜之 東京工業大学, 工学部, 教授 (70016335)
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| 研究分担者 |
安斎 弘樹 東京工業大学, 工学部, 助手 (80212661)
水本 哲弥 東京工業大学, 工学部, 助教授 (00174045)
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| 研究期間 (年度) |
1992 – 1993
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| 研究課題ステータス |
完了 (1993年度)
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| 配分額 *注記 |
6,900千円 (直接経費: 6,900千円)
1993年度: 500千円 (直接経費: 500千円)
1992年度: 6,400千円 (直接経費: 6,400千円)
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| キーワード | コヒーレント光回路 / 複素反射率 / 6開口干渉計 / 方向性結合器 / 偏波保存系 / 光ファイバ / 偏波保存 / 6開口干渉系 |
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| 研究概要 |
光通信および光計測など、光信号を扱うシステム、特にコヒーレント光回路系においては、反射の大きさとともにその位相を正確に評価する必要がある。本研究の目的は、光波の反射率を位相を含めて簡便に測定する方法を開発することである。
本研究では、光方向性結合器を用いて6開口干渉計を形成し、光源と測定試料を接続する2つの開口以外の開口から出力される光電力を測定し、複素反射係数を決定する方法の開発を目指した。
まず、通常の光ファイバ型方向性結合器を用いて測定系を構成し、比較的反射率の小さい場合への適用性を検討した。その結果、本反射測定法は反射率の小さい場合にも適用可能であることが明らかになったが、位相まで含めた複素反射係数を測定するためには、完全な偏波保存系で測定系を構成する必要があることがわかった。偏波面保存形光ファイバ方向性結合器を用いて偏波保存系の測定系を構築し、測定法を検討した結果、光ファイバ形で偏波保存系を構成した場合でも、干渉計内に存在する微小な温度分布によって各開口からの光出力電力に揺ぎが発生し、これが原因で反射係数の位相が決定できないことが明らかになった。
そこで、測定用干渉計内の温度分布を極力低減するために、小形な平面導波路系で測定系を構成する集積型光反射係数測定器について検討を行い、この構成に必要不可欠な導波路型方向性結合器ならびに基本的な干渉計を製作し、本測定法への適用可能性を検討した。その結果、テーパ状導波路形方向性結合器で集積形干渉測定系が構築可能であるとの見通しを得た。
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