| 研究課題/領域番号 |
04650249
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| 研究種目 |
一般研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
電力工学
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| 研究機関 | 日本工業大学 |
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研究代表者 |
原田 達哉 日本工業大学, 工学部・超高圧放電研究センター, 教授 (10183568)
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| 研究分担者 |
佐伯 正盛 日本工業大学, 超高圧放電研究センター, 助教授 (40049713)
高橋 久雄 ソニー, テクトロニクス株式会社・第二開発部, デザインリーダ
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| 研究期間 (年度) |
1992 – 1993
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| 研究課題ステータス |
完了 (1993年度)
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| 配分額 *注記 |
2,100千円 (直接経費: 2,100千円)
1993年度: 600千円 (直接経費: 600千円)
1992年度: 1,500千円 (直接経費: 1,500千円)
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| キーワード | デジタルレコーダ / インパルス電圧 / 性能試験 / 校正試験 / ノイズ / ステップ応答 / 積分非直線性 / 微分非直線性 / インパルス電流 / 校正 / 基準測定システム / インパルス |
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| 研究概要 |
研究計画にしたがって研究を進め、所期の目的を達成した。
1.高性能インパルス用デジタルレコーダの開発
10ビット、サンプリングレート200MS/sの一般用デジタルレコーダの性能改善を進め、IEC規格1083-1(インパルス試験に用いるデジタルレコーダ)に完全に合格する下記の性能のインパルス電圧・電流測定用デジタルレコーダを開発した。
(1)微分非直線性:0.5W_o以下(W_oはロードビン幅)(規格値0.8W_o以下)
(2)積分非直線性:フルスケールの±0.2%以下(規格値±0.5%以下)
(3)内部ノイズ:フルスケールの±0.08%以下(規格値±0.4%以下)
(4)リップル:フルスケールの±0.03%以下(規格値±0.4%以下)
2.校正用高精度パルス発生器の開発
水銀接点リレーおよび抵抗とコンデンサよりなり、IEC1083規格を満足する高精度インパルス発生器を開発した。発生波形は雷インパルス電圧(0.84/60μs)とその波頭裁断波、および開閉インパルス電圧(20/4,000μs)である。
3.校正用テストシステムの開発
IEC1083規格に定められている各種性能試験(直流電圧校正、微分、積分非直線性試験、内部雑音レベルの測定、時間校正、立上り時間測定、インパルススケールファクタの測定、リップル測定など)を容易に実施できる校正用テストシステムを開発した。
4.高精度インパルス電流基準システムの開発
上記インパルス用デジタルレコーダと平成3年度科研費などにより開発した基準分圧器・分流器とを組合せて、IEC規格(IEC 60-3,4,測定装置改訂案)に合格する精度±1%の高精度インパルス電圧・電流基準測定システムを得ることができた。
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