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電析法による合金ひげ結歯の成長機構

研究課題

研究課題/領域番号 04680056
研究種目

一般研究(C)

配分区分補助金
研究分野 結晶学
研究機関東京理科大学

研究代表者

湯本 久美  東京理科大学, 基礎工学部, 講師 (50103073)

研究期間 (年度) 1992
研究課題ステータス 完了 (1992年度)
配分額 *注記
1,400千円 (直接経費: 1,400千円)
1992年度: 1,400千円 (直接経費: 1,400千円)
キーワードひげ結晶 / 結晶成長 / 電析法 / Zn-Ni / Co-Ni / 異常共析 / メッキ
研究概要

1.電析法によりZn-Ni合金ひげ結晶が成長した。条件としては、結晶表面をZnO膜が覆うことが必要であった。
2.理面上このZnO膜はpH上昇により形成される。そこで、微小アンチモン電極を作製して、電析表面のpH値を測定した結果、電析時間とともにpH2からpH4.5に上昇することが分かった。
3.この結晶中のNi含有量は、溶液中の半分程であった。従来異常共析は結晶表面をZn(OH)_2膜が覆っているためNiの電析を阻止するものとされていたが、むしろZnO膜の方がNiの析出阻止が顕著であった。
4.不純物制御や電流波形を三角波に変える事により、長さを20μmから120μm程に伸ばすことができた。
5.Co-Ni系でも500μm程のひげ結晶が成長したが、ラッパ型の空洞結晶となった。これは、電析物表面で発生する水素ガスの影響によるものであった。

報告書

(1件)
  • 1992 実績報告書

URL: 

公開日: 1992-04-01   更新日: 2016-04-21  

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