無電解析出法による高機能薄膜生成機構の走査トンネル顕微鏡によるin situ解析

• 研究課題/領域番号: 04750699
• 研究種目: 奨励研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 工業物理化学・複合材料
• 研究機関: 早稲田大学
• 研究代表者: 本間 敬之 早稲田大学, 理工学部, 助手
• 研究期間 (年度): 1992
• 研究課題ステータス: 完了 (1992年度)
• 配分額: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円); 1992年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)