| 研究課題/領域番号 |
04804009
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| 研究種目 |
一般研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
天文学
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| 研究機関 | 電気通信大学 |
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研究代表者 |
和田 節子 電気通信大学, 電気通信学部, 助手 (30017404)
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| 研究分担者 |
坂田 朗 電気通信大学, 電気通信学部, 助手 (90017393)
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| 研究期間 (年度) |
1992 – 1993
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| 研究課題ステータス |
完了 (1993年度)
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| 配分額 *注記 |
1,900千円 (直接経費: 1,900千円)
1993年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)
1992年度: 800千円 (直接経費: 800千円)
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| キーワード | 蛍光スペクトル / 広域赤色輻射 / 反射星雲 / 星間塵 / アモルファス物質 / 一酸化ケイ素 / ケイ酸質の塵 / 赤外線スペクトル / 10μ吸収ピーク / クラスタ / 急冷固体 |
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| 研究概要 |
研究の目的 反射星雲では、塵による赤い輻射が観測され、広域赤色輻射(ERE)と呼ばれ、中心星からの紫外線照射で塵が輻射する蛍光であると推定されている。筆者らは、これを主に急冷炭素質物質(QCC)の塵によると推定し、報告した(ApJ,1992)。塵には、炭素質の塵の他に、当然それ以外の塵、主には、Si-Oを骨格とする塵の存在が考えられる。この塵の紫外線照射による可視から近赤外領域における蛍光輻射を測定し、それらの塵のEREに対する寄与を推定する。
得られた成果 Si-Oを骨格とする物質の蛍光スペクトルを測定するため、SiOガスを出発物質として、SiO急冷固体をつくり、さらにそれを空気中で酸化し、SiO_2へと変化させた。蛍光スペクトルは、2種のシステムを用いて測定した。第一は、Arレーザ光(488.4nm、2mW)で照射し、輻射した蛍光を分光し、Si検出器(500-1000nm)と冷却したGe検出器(750-1500nm)で検出した。第二は、Hg-Xe光(313nm)で照射し、輻射した蛍光を分光し、光電子増倍管(R666、R376、400-800nm)と冷却したGe検出器(750-1500nm)で検出した。SiO急冷固体を石英ガラス基板上に付着させ、それを真空セル中に入れ、蛍光を測定した。つくった直後に上記の2方法で測定すると、可視、赤外域(400-1500nm)では有意の蛍光輻射は測定できなかった。長期保存後の試料、あるいは空気に曝して酸化した試料では、試料により強度は異なるが、可視域に(480-550nm)、微弱な蛍光が測定された。同条件で可視域の蛍光を比較すると、SiO急冷固体はQCCの1/10以下のピーク発光強度であった。これらのことから、Si-O系物質の塵のEREへの直接大きな寄与は考えられない。炭素質の塵がEREの主たる原因であると推定できる。予備的実験の測定で(ホトルミナ・ミニ、ジョバンイボン社製)、得られた近赤外域の蛍光は、今回の2方法の測定では検出されなかった。
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