| 研究課題/領域番号 |
05650200
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| 研究種目 |
一般研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
熱工学
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| 研究機関 | 大分大学 |
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研究代表者 |
上宇都 幸一 大分大学, 工学部, 教授 (20038029)
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| 研究期間 (年度) |
1993
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| 研究課題ステータス |
完了 (1993年度)
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| 配分額 *注記 |
1,400千円 (直接経費: 1,400千円)
1993年度: 1,400千円 (直接経費: 1,400千円)
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| キーワード | シリカエアロゲル / 散乱位相関数 / アルベド / 相関散乱 / 単分散 / 非対称性パラメータ |
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| 研究概要 |
シリカエアロゲルに450nmの一様光を照射させたときに生ずる境界散乱光データを、申請者の開発した反復的逆散乱問題ソルバーを用いて解析した結果、シリカエアロゲルの光学特性について以下の知見を得た。
(1)シリカエアロゲルが、SiO_2の単分散粒子群より構成されているならば、その平均粒径は、10〜20nm程度であり、かつ体積分率は0.1程度である。従って、相関散乱は、無視できない。
(2)シリカエアロゲルの散乱位相関数は、Rayleigh、散乱位相関数よりもやや前方散乱が強く、非対称性パラメータは、0.1程度である。また、散乱角pi/2近傍で、くぼみを生ずる。以上の結果は、単分散相関散乱理論では、説明できない。
(3)可視機でのエアロゲルのアルベドは、1である。
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