| 研究課題/領域番号 |
06452072
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| 研究種目 |
一般研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
物理学一般
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| 研究機関 | 広島大学 |
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研究代表者 |
遠藤 一太 広島大学, 理学部, 教授 (90033894)
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| 研究分担者 |
中里 俊晴 東北大学, 理学部, 助手 (00172289)
高橋 徹 広島大学, 理学部, 助手 (50253050)
堀口 隆良 広島大学, 理学部, 助教授 (40033899)
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| 研究期間 (年度) |
1994 – 1995
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| 研究課題ステータス |
完了 (1995年度)
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| 配分額 *注記 |
6,400千円 (直接経費: 6,400千円)
1995年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
1994年度: 5,200千円 (直接経費: 5,200千円)
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| キーワード | パラメトリックX線放射 / 共鳴トランジション放射 / 単色X線源 |
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| 研究概要 |
周期的物質からのコヒーレントなX線には、パラメトリックX線(PXR)、共鳴トランジション放射、チャネリング放射などがあり、旧ソ連をはじめ、世界各地で研究が行われている。本研究では、チャネリング現象下でのPXRおよびSi単結晶多層膜からのX線を測定することにより、これらの放射をコヒーレントなX線発生という統一的な観点から現象を理解するための基礎的なデータを得ることができた。特筆すべき点はいかのようにまとめられる。
1.低エネルギー領域(130MV)でのPXRの2次元的角分布の直接測定に成功した。この結果、中心角における窪みは現れないことが分かった。この事は、従来の理論では理解できず、我々の提唱している「インコヒーレントモデル」を支持している。しかしPXRの絶対強度はいずれの理論式よりも大きく、さらなる検討が必要である。
2.電子エネルギー450MeV、200MeVにおいては、PXRの強度に対する面チャネリングの効果は小さい。
3.Si単結晶を規則的に並べた多層膜を用いると、トランジション放射の影響で、発生するX線の強度が枚数に応じて急速に増加する。特に、結晶を傾けて、ブラグ角方向に発生するX線は、結晶の枚数の2乗に比例して強くなるという、興味ある現象が観測された。
ここで見出された多層単結晶標的からのX線は、PXRより強い単色可変波長X線源として応用できる可能性がある。さらに、高輝度の高X線源を開発するためには多層単結晶標的を電子が多重通過する方式が有望であると思われる。
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