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希土類化合物に含まれる4f電子やアクチナイド化合物に含まれる5f電子の振舞いに関する研究は、大きな研究分野を形成している。本研究ではf電子系のフェルミ面に関する情報を得るべく、50mkの低温での磁気抵抗を測定すべく、希釈冷凍機用の磁気抵抗測定装置の製作を行った。本年度は、これまで開発してきたトップロ-ディング型希釈冷凍機の磁気抵抗用プローブの製作を行った。磁気抵抗からフェルミ面に関する情報を得るには試料を磁場に対していろいろな角度に回転する必要がある。そこで本プローブは室温部から試料を回転できるようにした。ただし希釈冷凍機は外部からの熱流入を出来るだけ防ぐ必要がある。熱流入の主な原因となるのは、プローブ自身の熱伝導と希釈冷凍機本体のプローブ導入管とプローブの間の^3Heの対流である。第一の原因を防ぐために.GIOと呼ばれる非金属材料を用いた。ただし非金属材料は熱膨張が大きいため.導入管とプローブの間に対流の原因となるすきまで出来やすい、本研究では低温での熱膨張の変化を考慮して製作を行った。現在このプローブを用いて50mkまで冷凍機を冷えることを確認している.
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