| 研究概要 |
多価ECRイオン源は、強力なX線発生源であり,そのX線がイオン源の動作状態についての状報を担っていることが知られている。本研究は,そのX線を分光することにより,ECRイオン源における多価イオンの発生メカニズムを探り,多価ECRイオン源の診断を行うことを目標としている。これまでの測定で
(1)X線スペクトルは500keV以上,800keV位まで達している。
(2)このX線は,主としてECRによって加速された電子が,プラズマ容器と衝突する際に発生する制動輻射による。
(3)プラズマ容器中の発生源の探査では,X線強度が測定方向に強く依存する。
ことがわかった。尚,小型Si(Li)X線検出器による線スペクトルの測定は成功するに至っていない。
本年度の大部分は,これまでに測定されたスペクトルの解析とその解釈に当てられたが,今後も更に続けて行うことにしている。
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