研究課題/領域番号 |
07555006
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研究種目 |
基盤研究(A)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 展開研究 |
研究分野 |
表面界面物性
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研究機関 | 東京大学 |
研究代表者 |
山崎 泰規 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 教授 (30114903)
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研究分担者 |
東 俊行 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 助手 (70212529)
小牧 研一郎 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 教授 (40012447)
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研究期間 (年度) |
1995 – 1997
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研究課題ステータス |
完了 (1997年度)
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配分額 *注記 |
18,800千円 (直接経費: 18,800千円)
1997年度: 900千円 (直接経費: 900千円)
1996年度: 6,200千円 (直接経費: 6,200千円)
1995年度: 11,700千円 (直接経費: 11,700千円)
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キーワード | 多価イオン / 表面水素 / ポテンシャルスパッタリング / 水素検出 |
研究概要 |
低速多価イオンによる表面水素、表面不純物のポテンシャルスパッタリングイールド、及び、放出エネルギー・角度分布を時間敏感型2次元位置敏感検出器で測定した。以前のデータとのよい一致が確認された他,水素以外の2次イオンの放出エネルギーは1eV程度以下であるのに水素イオンは10eVにも達し、かつ、表面垂直方向から大きくずれて放出される事がはじめて確認された。これは我々の提唱しているポテンシャルスパッタリングモデルを支持する重要な知見であるとともに,今後の定量的表面水素分析の可能性をほぼ確実にした実験事実である。
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