| 研究課題/領域番号 |
07555605
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 試験 |
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| 研究分野 |
高分子構造物性(含繊維)
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
田代 孝二 大阪大学, 大学院・理学研究科高分子科学専攻, 教授 (60171691)
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| 研究分担者 |
金子 文俊 大阪大学, 大学院・理学研究科高分子科学専攻, 講師 (70214468)
小林 雅通 大阪大学, 名誉教授 (40028147)
及川 哲夫 日本電子(株)電子光学機器技術本部, 主任研究員
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| 研究期間 (年度) |
1995 – 1996
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| 研究課題ステータス |
完了 (1996年度)
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| 配分額 *注記 |
2,600千円 (直接経費: 2,600千円)
1996年度: 2,600千円 (直接経費: 2,600千円)
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| キーワード | 高分子 / 結晶構造解析 / 電子線回析 / イメージングプレート / 直接法 / 高分子単結晶 / n-アルカン / 剛直高分子 / 電子線回折 / 高分子結晶 / 構造解析 / 単結晶 / X線回折 / 反射強度 / 電子顕微鏡 |
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| 研究概要 |
高分子結晶の構造をX線回析データを基に精度高く解析し、定量的な物性の議論に耐え得るデータを得ることは今なお極めて困難である。我々は、高感度で、かつ定量性の高いイメージングプレートを利用したX線構造解析システムを開発し、できる限り高精度の構造情報を得るための努力をしている。この試みをサポートする手だてとして、本研究では、電子線回析データに焦点を向けた。すなわち、高分子の稀薄溶液から成長してくる、いわゆる高分子単結晶は、せいぜいサブミクロンサイズしかなく、とり扱いは極めて困難であるが、その電子線回析像はバルク試料について撮影されたX線回析像の数倍から数十倍もの数の、かつ極めてシャープな反射を与える。この反射の位置および強度を、もしも十分な精度でもって定量評価することが出来るならば、極めて精度の高い構造が得られるはずであり、X線構造解析に対する相補的な手段となり得る。しかし、その技術は、現時点では必ずしも十分に定量的な段階にまで及んではいない。我々が目的としたのは、このシステムを新たに開発することであった。電子顕微鏡を導入し、そこにイメージングプレートを装着した。そして、このシステムで測定したデータについて、反射の位置および積分強度を精度高く評価するコンピュータソフトを開発した。実際にアルカン単結晶などについてチェックしたところ、低分子結晶構造解析で使われている直接法によって原子位置を抽出、構造を精密化することに成功した。今後は、ソフトの改良などを含め、システムの性能アップを目指したいと考えている。
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