| 研究課題/領域番号 |
07650390
|
|---|
| 研究種目 |
一般研究(C)
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 研究分野 |
電子デバイス・機器工学
|
|---|
| 研究機関 | 山形大学 |
|---|
研究代表者 |
奥山 克郎 山形大学, 工学部, 教授 (70007011)
|
|---|
| 研究分担者 |
神戸 士郎 山形大学, 工学部, 助教授 (20211188)
大嶋 重利 山形大学, 工学部, 教授 (40124557)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
1995
|
| 研究課題ステータス |
完了 (1995年度)
|
| 配分額 *注記 |
1,600千円 (直接経費: 1,600千円)
1995年度: 1,600千円 (直接経費: 1,600千円)
|
|---|
| キーワード | 水素ガスセンサ / MIMトンネルダイオード / パラジウム・ニッケル薄膜 |
|---|
| 研究概要 |
本研究の目的は、PdMIMトンネルダイオード水素ガスセンサの動作領域を、高濃度水素側に拡張することである。このため、PdにNiを添加すると水素の溶解度が低下する現象を利用する。
MIMダイオードは、ガラス基板にAl薄膜ストライプを蒸着後、自然酸化により約60Åの厚さのAl_2O_3を形成させ、その上にPd/Ni合金膜を共蒸着により形成して作成した。
Pdに対するNi濃度を0、10、20、30%としたMIM素子を作成し、真空中に置き、水素ガスを0.01〜50Torr導入した時のトンネル電流の変化を調べた。その結果、PdMIMダイオードの測定可能範囲は水素分圧0.001〜0.1Torrであるのに対し、Pd/Ni10%MIMダイオードは0.01〜10Torr、Pd/Ni31%MIMダイオードは0.1〜50Torr以上となった。明らかに、Niの添加により、高濃度の水素ガスが定量検出できることが判明した。
この理由を調べるため、X線回折により、Pd薄膜とPd/Ni合金薄膜の格子間隔を測定したところ、3.89ÅのPd格子間隔が、Miを30%添加したことにより3.79Åに減少した。このため、水素の溶解度が減少するものと思われる。
本研究の一部は、応用物理学会講演会(1995年秋季)、応用物理学会東北支部講演会(1995秋)で発表し、Jpn.J.Appl.Phys.April(1996)に掲載予定である。
|
