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原子間力顕微鏡による活性な清浄表面の単原子観察条件の研究

研究課題

研究課題/領域番号 09450018
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 表面界面物性
研究機関大阪大学

研究代表者

菅原 康弘  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (40206404)

研究期間 (年度) 1997 – 1998
研究課題ステータス 完了 (1998年度)
配分額 *注記
10,000千円 (直接経費: 10,000千円)
1998年度: 2,200千円 (直接経費: 2,200千円)
1997年度: 7,800千円 (直接経費: 7,800千円)
キーワード原子間力顕微鏡 / 原子間力 / 清浄表面 / 単原子観察 / 半導体表面 / 引力 / ダングリングボンド / 化学結合
研究概要

1) 現有の原子間力顕微鏡の超高感度化
探針先端に働く非常に微弱な引力勾配を高感度に測定するため、超高感度な変位検出系と超高感度な周波数変調回路を実現した。
2) 清浄で先鋭な探針の実現
活性な半導体清浄表面に対して安定な単原子観察を実現するため、原子レベルで先鋭で清浄な探針を実現した。
3) 活性な半導体清浄表面に対する単原子観察条件の理論的検討
活性な半導体清浄表面を原子分解能で測定するために必要な引力勾配の大きさについて理論的に検討し、10N/m以上であることを見出した。
4) 表面に弱く結合した原子(アダトム)の原子分解能観察条件の解明
加熱清浄化処理により得られるSiの活性な(111)再構成表面を、探針と試料表面間に働く引力勾配を変化させながら観察し、表面に弱く結合した原子(アダトム)を原子分解能で安定に観察できるための引力勾配の大きさを解明した。また、原子分解能観察に必要な引力勾配の大きさは、探針先端のダングリングボンドの有無により大きく変化することを見いだした。
5) 軌道混成による力の原子レベル測定に成功
金属を吸着したSi表面とダングリングボンドを持ったSi探針との間の相互作用力が、Si清浄表面における場合と比較してどのように変化するのかを検討した。その結果、探針が試料から離れている時には、ファンデルワールス(vdW)力やクーロン力が画像化に寄与し、他方、接近している時には、Si-Ag原子間の共有結合軌道と探針先端のダングリングボンドとの軌道混成による力が画像化に寄与していることを解明した。
6) 金属単結晶表面の原子分解能観察に世界で初めて成功
これまで、非接触AFMを用いて、金属単結晶表面を原子分解能で観察できたという報告はない。本研究では、金属単結晶表面であるAg(111)表面を世界で初めて原子分解能観察することに成功した。

報告書

(3件)
  • 1998 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 1997 実績報告書
  • 研究成果

    (65件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (65件)

  • [文献書誌] Y.Sugawara et al.: ""Ture atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy"" Appl.Sur.Sci.113/114. 364-370 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: "Measurement of the Evanescent Eield Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope"" Opt.Rev.4・1B. 232-235 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air"" Jpn.J.Appl.Phys.36・6A. 3755-3758 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Development of ultrahigh vacuum atomic force microscopy with frequency modulation detection and its application to electrostatic force measurement"" J.Vac.Sci.Technol.B. 15・4. 1543-1546 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: ""Detection mechanism of optical evanescent field using a noncontact mode Atomic force microscope with a frequency modulation detection method"" J.Vac.Sci.Technol.B. 15・4. 1512-1515 (1997)

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  • [文献書誌] N.Sasaki et al.: ""Analysis of frictional-force image patterns of a graphite surface"" J.Vac.Sci.Technol.B. 15・4. 1479-1482 (1997)

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  • [文献書誌] J.Ohgami et al.: ""Growth of Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved (010) Surface of (NH_2CH_2COOH)_3・H_2SO_4"" J.Phys.Soc.Jpn.66・9. 2747-2750 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Role of a covalent bonding interaction in noncontact-mode atomic-force microscopy"" Phys.Rev.B. 56・16. 9834-9840 (1997)

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  • [文献書誌] R.Nishi et al.: ""Simulated Computed Tomography for Reconstruction of Vacancies from Atomic Force Microscope Image"" Jpn.J.Appl.Phys.36・10B. L1410-L1412 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: ""Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.37・2A. L167-L169 (1998)

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  • [文献書誌] H.Ueyama et al.: ""Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A. 66. S295-S297 (1998)

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  • [文献書誌] R.Nishi et.al.: ""New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete Fourier transform"" Jpn.J.Appl.Phys.37・4A. L417-L419 (1998)

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  • [文献書誌] N.Sasaki et.al.: "Theoretical analysis of atomic-scale friction in frictional-force microscopy" Tribology Lett.4. 125-128 (1998)

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  • [文献書誌] S.Fujisawa et.al.: "Analysis of experimental load dependence of two-dimensional atomic-scale friction" Phys.Rev.B. 58・8. 4909-4916 (1998)

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  • [文献書誌] M.Abe et.al.: "Optical near-field imaging using Kelvin probe technique" Jpn.J.App.Phys.37・9A/B. L1074-L1077 (1998)

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  • [文献書誌] S.Orisaka et.al.: ""The Atomic Resolution Imaging of Metallic Ag (111) Surface by Noncontact Atomic Force Microscope"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 243-246 (1999)

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  • [文献書誌] T.Minobe et.al.: ""Distance Dependence of Noncontact AFM Image Contrast on Si(111)√<3>×√<3>-Ag Structure"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 298-303 (1999)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et.al.: ""Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si(100)2×1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 304-308 (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara et.al.: "True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110)" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 371-375 (1999)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Abe et.al.: ""Near-field Optical Imaging Using Force Detection with New Tip-Electrode Geometry"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 383-387 (1999)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Morita and Y.Sugawara: ""Guidelines for the Achievement of True Atomic Resolution with Noncontact Atomic Force Microscopy"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 406-410 (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara et.al.: "Non-contact AFM Images Measured on Si(111)√<3>×√<3>-Ag and Ag(111)" Surface and Interface Analysis. 27・5-6(In press). (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara, H.Ueyama, T.Uchihashi, M.Ohta, S.Morita, M.Suzuki and S.Mishima: ""True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy"" Appl.Sur.Sci.Vol.113/114. 364-370 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe, T.Uchihashi, M.Ohta, H.Ueyama, Y.Sugawara and S.Morita: ""Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope"" Opt.Rev.Vol.4, No.1B. 232-235 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi, A.Nakano, T.Ida, Y.Ando, R.Kaneko Y.Sugawara and S.Morita: ""Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36, Part I,No.6A. 3755-3758 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi, M.Ohta, Y.Sugawara, Y.Yanase, T.Shigematsu, M.Suzuki and S.Morita: ""Development of ultrahigh vacuum atomic force microscopy with frequency modulation detection and its application to electrostatic force measurement"" J.Vac.Sci.Technol.B. Vol.15, No.4. 1543-1546 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Abe, T.Uchihashi, M.OhtaM.Ohta, H.Ueyama, Y.Sugawara and S.Morita: ""Detection mechanism of optical evanescent field using a noncontact mode Atomic force microscope with a frequency modulation detection method"" J.Vac.Sci.Technol.B. Vol.15, No.4. 1512-1515 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] N.Sasaki, M.Tsukada, S.Fujisawa, Y.Sugawara, S.Morita and K.Kobayashi: ""Analysis of frictional-force image patterns of a graphite surface"" J.Vac.Sci.Technol.B. Vol.15, No.4. 1479-1482 (1997)

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  • [文献書誌] J.Ohgami, Y.Sugawara, S.Morita and T.Ozaki: ""Growth of Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved (010) Surface of (NH_2CH_2COOH)_3・H_2SO_4"" J.Phys.Soc.Jpn.Vol66, No.9. 2747-2750 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Uchihashi, Y.Sugawara, T.Tsukamoto, M.Ohta and S.Morita: ""Role of a covalent bonding interaction in noncontact-mode atomic-force microscopy"" Phys.Rev.B. Vol.56, No.16. 9834-9840 (1997)

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  • [文献書誌] R.Nishi, T.Ohta, Y.Sugawara, S.Morita and T.Okada: ""Simulated Computed Tomography for Reconstruction of Vacancies from Atomic Force Microscope Image"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36, No.10B. L1410-L1412 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe, Y.Sugawara, Y.Hara, K.Sawada and S.Morita: ""Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37, No.2A. L167-L169 (1998)

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  • [文献書誌] N.Sasaki, M.Tsukada, S.Fujisawa, Y.Sugawara, S.Morita and K.Kobayashi: ""Load dependence of the frictional-force microscopy image pattern of the graphite surface"" Phys.Rev.B. Vol.57, No.7. 3785-3786 (1998)

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  • [文献書誌] H.Ueyama, Y.Sugawara and S.Morita: ""Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A,Vol.66. S295-S297 (1998)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] R.Nishi, Y.Nakao, T-Ohta, Y.Sugawara, S.Morita and T.Okada: ""New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete Fourier transform"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37, No.4A. L417-L419 (1998)

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  • [文献書誌] N.Sasaki, M.Tsukada, S.Fujisawa, Y.Sugawara and S.Morita: ""Theoretical analysis of atomic-scale friction in frictional-force microscopy"" Tribology Lett.Vol.4. 125-128 (1998)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Fujisawa, K.Yokoyama, Y.Sugawara and S.Morita: ""Analysis of experimental load dependence of two-dimensional atomic-scale friction"" Phys.Rev.Vol.58, No.8. 4909-4916 (1998)

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  • [文献書誌] M.Abe, Y.Sugawara, Y.Hara, K.Sawada and S.Morita: ""Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol37, No.9A/B. L1074-L1077 (1998)

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  • [文献書誌] S.Orisaka, T.Minobe, Y.Sugawara and S.Morita: ""The Atomic Resolution Imaging of Metallic Ag (111) Surface by Noncontact Atomic Force Microscope"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 243-246 (1999)

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  • [文献書誌] T.Minobe, T.Uchihashi, T.Tsukamoto, S.Orisaka, Y.Sugawara and S.Morita: ""Distance Dependence of Noncontact AFM Image Contrast on Si (111) ROO<3>*ROO<3>-Ag Structure"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 298-303 (1999)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi, Y.Sugawara, T.Tsukamoto, T.Minobe, S.Orisaka T.Okada and S.Morita: ""Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si (100) 2*1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 304-308 (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara, T.Uchihashi, M.Abe and S.Morita: ""True Atomic Resolution Imaging of Surface Structure and Surface Charge on the GaAs (110)"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 371-375 (1999)

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  • [文献書誌] M.Abe, Y.Sugawara, K.Sawada, Y.Andoh and S.Morita: ""Near-field Optical Imaging Using Force Detection with New Tip-Electrode Geometry"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 383-387 (1999)

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  • [文献書誌] S.Morita and Y.Sugawara: ""Guidelines for the Achivement of True Atomic Resolution with Noncontact Atomic Force Microscopy"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 406-410 (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara, Y.Minobe, S.Orisaka, T.Uchihashi, T.Tsukamoto and S.Morita: ""Non-contact AFM Images Measured on Si (111) ROO<3>*ROO<3>-Ag and Ag (111) Surfaces"" Surface and Interface Analysis. Vol.27, No.5-6 (in press). (1999)

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  • [文献書誌] H.Ueyama et al.: "“Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A. Vol.66. S295-S297 (1998)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36,No.6A. 3755-3758 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Role of a convalent bonding interaction in noncontact-mode atomic-force microscopy"" Phys.Rev.B. Vol.56,No.16. 9834-9840 (1997)

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  • [文献書誌] R.Nishi et al.: ""Simulated Computed Tomography for Reconstruction of Vacancies from Atomic Force Microscope Image"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36,No.10B. L1410-L1412 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: ""Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37,No.2A. L167-L169 (1998)

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  • [文献書誌] H.Ueyama et al.: ""Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A. Vol.66 (in press). (1998)

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公開日: 1997-04-01   更新日: 2016-04-21  

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