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非接触モード走査型原子間力/トンネル顕微鏡の試作研究

研究課題

研究課題/領域番号 09555005
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分展開研究
研究分野 表面界面物性
研究機関大阪大学

研究代表者

森田 清三  大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (50091757)

研究期間 (年度) 1997 – 1998
研究課題ステータス 完了 (1998年度)
配分額 *注記
12,800千円 (直接経費: 12,800千円)
1998年度: 1,700千円 (直接経費: 1,700千円)
1997年度: 11,100千円 (直接経費: 11,100千円)
キーワード原子間力顕微鏡 / 原子間力 / トンネル顕微鏡 / トンネル電流 / 清浄表面 / 原子分解能 / 半導体表面 / AFM / STM
研究概要

1) 現有の原子間力顕微鏡の超高感度化
原子間力とトンネル電流を同時測定するためには、原子間力の測定領域を表面から遠ざけねばならず、より微弱な力勾配の変化を検出する必要がある。そこで、超高感度な変位検出系と超高感度な周波数変調回路を実現した。
2) 清浄で先鋭な導電性探針の実現
力を検出する原子間力顕微鏡の探針は、導電性のシリコンでできているが、その表面は絶縁体の自然酸化膜に覆われている。そこで、現有の超高真空装置にアルゴン・イオン銃を付加し、先鋭な導電性探針を実現できるようにした。
3) 原子分解能で力とトンネル電流を同時測定するための観察条件の理論的検討
トンネル電圧を印加した状態で、原子間力の単原子観察に必要なバネ定数の大きさについて理論的に検討した。その結果、バネ定数の大きさとして30N/mが必要であることを理論的に明らかにした。
4) 原子分解能で力とトンネル電流を同時測定するための観察条件の実験的検討
劈開により簡単に清浄表面が得られるガリウムヒ素やインジウム燐のような化合物半導体の劈開面を試料として取り上げ、探針に働く引力勾配とトンネル電流の同時測定を行った。その際、探針と試料との間の距離、バイアス電圧などを変化させながら測定を行い、引力領域で単原子観察可能な領域と引力勾配の大きさを実験的に検討した。
5) 原子間力と静電気力とを分離するための新しい方式の考案
従来、原子間力とトンネル電圧印加に伴う静電気力とは、交流変調法を用いて分離されてきたが、両者にはクロストークが存在する事が判明した。そこで、分離度を向上させるために、交流変調法に時分割法を併用した方式を新たに考案した。また、そのための測定回路系を開発し、原子間力とと静電気力とを完全分離できることを実証した。

報告書

(3件)
  • 1998 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 1997 実績報告書
  • 研究成果

    (65件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (65件)

  • [文献書誌] Y.Sugawara et al.: ""True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy"" Appl.Sur.Sci.113/114. 364-370 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Abe et al.: "Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope"" Opt.Rev.4・1B. 232-235 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air"" Jpn.J.Appl.Phys.36・6A. 3755-3758 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Development of ultrahigh vacuum atomic force microscopy with frequency modulation detection and its application to electrostatic force measurement"" J.Vac.Sci.Technol.B. 15・4. 1543-1546 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: ""Detection mechanism of optical evanescent field using a noncontact mode Atomic force microscope with a frequency modulation detection method"" J.Vac.Sci.Technol.B. 15・4. 1512-1515 (1997)

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  • [文献書誌] N.Sasaki et al.: ""Analysis of frictional-force image patterns of a graphite surface"" J.Vac.Sci.Technol.B. 15・4. 1479-1482 (1997)

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  • [文献書誌] J.Ohgami et al.: ""Growth of Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved (010) Surface of (NH_2CH_2COOH)_3・H_2SO_4"" J.Phys.Soc.Jpn.66・9. 2747-2750 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: ""Role of a covalent bonding interaction in noncontact-mode atomic-force microscopy"" Phys.Rev.B. 56・16. 9834-9840 (1997)

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  • [文献書誌] R.Nishi et al.: ""Simulated Computed Tomography for Reconstruction of Vacancies from Atomic Force Microscope Image"" Jpn.J.Appl.Phys.36・10B. L1410-L1412 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: ""Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.37・2A. L167-L169 (1998)

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  • [文献書誌] H.Ueyama et al.: ""Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A. 66. S295-S297 (1998)

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  • [文献書誌] R.Nishi et.al.: ""New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete Fourier transform"" Jpn.J.Appl.Phys.37・4A. L417-L419 (1998)

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  • [文献書誌] N.Sasaki et al.: "Theoretical analysis of atomic-scale friction in frictional-force microscopy" Tribology Lett.4. 125-128 (1998)

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  • [文献書誌] S.Fujisawa et.al.: "Analysis of experimental load dependence of two-dimensional atomic-scale friction" Phys.Rev.B. 58・8. 4909-4916 (1998)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: "Optical near-field imaging using Kelvin probe technique" Jpn.J.App.Phys.37・9A/B. L1074-L1077 (1998)

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  • [文献書誌] S.Orisaka et.al.: ""The Atomic Resolution Imaging of Metallic Ag(111)Surface by Noncontact Atomic Force Microscope"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 243-246 (1999)

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  • [文献書誌] T.Minobe et.al.: ""Distance Dependence of Noncontact AFM Image Contrast on Si(111)√<3>×√<3>-Ag Structure"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 298-303 (1999)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et.al.: ""Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si(100)2×1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 304-308 (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara et.al.: "True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110)" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 371-375 (1999)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Abe et.al.: ""Near-field Optical Imaging Using Force Detection with New Tip-Electrode Geometry"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 383-387 (1999)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Morita and Y.Sugawara: ""Guidelines for the Achievement of True Atomic Resolution with Noncontact Atomic Force Microscopy"" Appl.Sur.Sci.140・3-4. 406-410 (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara et.al.: "Non-contact AFM Images Measured on Si(111)√<3>×√<3>-Ag and Ag(111)" Surface and Interface Analysis. 27・5-6(In press). (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara, H.Ueyama, T.Uchihashi, M.Ohta, S.Morita, M.Suzuki and S.Mishima: ""True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy"" Appl.Sur.Sci.Vol.113/114. 364-370 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe, T.Uchihashi, M.Ohta, H.Ueyama, Y.Sugawara, and S.Morita :""Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope"" Opt.Rev.Vol.4, No.1B. 232-235 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Uchihashi, A.Nakano, T.Ida, Y.Ando, R.Kaneko Y.Sugawara and S.Morita ;: ""Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36, Part I No.6A. 3755-3758 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Uchihashi, M.Ohta, Y.Sugawara, Y.Yanase, T.Shigematsu, M.Suzuki and S.Morita :""Development of ultrahigh vacuum atomic force microscopy with frequency modulation detection and its application to electrostatic force measurement"" J.Vac.Sci.Technol.B. Vol.15, No.4. 1543-1546 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Abe, T.Uchihashi, M.Ohta, M.Ohta, H.Ueyama, Y.Sugawara and S.Morita :""Detection mechanism of optical evanescent field using a noncontact mode Atomic force microscope with a frequency modulation detection method"" J.Vac.Sci.Technol.B. Vol.15, No.4. 1512-1515 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] N.Sasaki, M.Tsukada, S.Fujisawa, Y.Sugawara, S.Morita and K.Kobayashi :""Analysis of frictional-force image patterns of a graphite surface"" J.Vac.Sci.Technol.B. Vol.15, No.4. 1479-1482 (1997)

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  • [文献書誌] J.Ohgami, Y.Sugawara, S.Morita and T.Ozaki :""Growth of Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved (010) Surface of (NH_2CH_2COOH)_3・H_2SO_4"" J.Phys.Soc.Jpn.Vol.66, No.9. 2747-2750 (1997)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Uchihashi, Y.Sugawara, T.Tsukamoto, M.Ohta and S.Morita :""Role of a covalent bonding Interaction in noncontact-mode atomic-force mictoscopy"" Phys.Rev.B. Vol.56, No.16. 9834-9840 (1997)

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  • [文献書誌] R.Nishi, T.Ohta, Y.Sugawara, S.Morita and T.Okada :""Simulated Computed Tomography for Reconstruction of Vacancies from Atomic Force Microscope Image"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36, No.10B. L1410-L1412 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe, Y.Sugawara, Y.Hara, K.Sawada and S.Morita :""Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic force Misroscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37, No.2A. L167-L169 (1998)

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  • [文献書誌] N.Sasaki, M.Tsukada, S.Fujisawa, Y.Sugawara, S.Morita and K.Kobayashi: ""Load dependence of the frictional-force microscopy image pattern of the graphite surface"" Phys.Rev.B. Vol.57, No.7. 3785-3786 (1998)

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  • [文献書誌] H.Ueyama, Y.Sugawara and S.Morita: ""Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A. Vol.66. S292-S297 (1998)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] R.Nishi, Y.Nakao, T.Ohta, Y.Sugawara, S.Morita and T.Okada: ""New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete Fourier transform"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37, No.4A. L417-L419 (1998)

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  • [文献書誌] N.Sasaki, M.Tsukada, S.Fujisawa, Y.Sugawara and S.Morita: ""Theoretical analysis of atomic-scale friction in frictional-force microscopy"" Tribology Lett.Vol.4. 125-128 (1998)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Fujisawa, K.Yokoyama, Y.Sugawara and S.Morita: ""Analysis of experimental load dependence of two-dimensional atomic-scale friction"" Phys.Rev.B. Vol.58, No.8. 4909-4916 (1998)

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  • [文献書誌] M.Abe, Y.Sugawara, Y.Hara, K.Sawada and S.Morita: ""Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37, No.9A/B. L1074-L1077 (1998)

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  • [文献書誌] S.Orisaka, T.Minobe, Y.Sugawara and S.Morita: ""The Atomic Resolution Imaging of Metallic Ag(111)Surface by Noncontact Atomic Force Microscope"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 243-246 (1999)

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  • [文献書誌] T.Minobe, T.Uchihashi, T.Tsukamoto, S.Orisaka, Y.Sugawara and S.Morita: ""Distance Dependence of Noncontact AFM Image Contrast on Si(111)ROO<3>3*ROO<3>3-Ag Structure"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 298-303 (1999)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Uchihashi, Y.Sugawara, T.Tsukamoto, T.Minobe, S.Orisaka T.Okada and S.Morita: ""Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si(100)2*1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 304-308 (1999)

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  • [文献書誌] Y.Sugawara, T.Uchihashi, M.Abe and S.Morita: ""True Atomic Resolution Imaging of Surface Structure and Surface Charge on the GaAs(110)"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 371-375 (1999)

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  • [文献書誌] M.Abe, Y.Sugawara, K.Sawada, Y.Andoh and S.Morita :""Near-field Optical Imaging Using Force Detection with New Tip-Electrode Geometry"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 383-387 (1999)

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  • [文献書誌] S.Morita and Y.Sugawara ;: ""Guidelines for the Achievement of True Atomic Resolution with Noncontact Atomic Force Microscopy"" Appl.Sur.Sci.Vol.140, No.3-4. 406-410 (1999)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Y.Sugawara, T.Minobe, S.Orisaka, T.Uchihashi, T.Tsukamoto and S.Morita: ""Non-contact AFM Images Measured on Si(111)ROO<3>3*ROO<3>3-Ag and Ag(111)Surfaces"" Surface and Interface Analysis. Vol.27, No.5-6(In press). (1999)

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      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] H.Ueyama et al.: "“Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A. Vol.66. S295-S297 (1998)

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      1998 実績報告書
  • [文献書誌] R.Nishi et.al.: ""New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with discrete Fourier transform"" Jpn.J.Appl.Phys.37・4A. L417-L419 (1998)

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  • [文献書誌] M・Abe et.al.: "Optical near-field imaging using Kelvin probe technique" Jpn.J.App.Phys.37・9A/B. L1074-L1077 (1998)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: "“Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air″" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36,No.6A. 3755-3758 (1997)

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  • [文献書誌] T.Uchihashi et al.: "“Role of a covalent bonding interaction in noncontact-mode atomic-force microscopy"" Phys.Rev.B. Vol.56,No.16. 9834-9840 (1997)

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  • [文献書誌] R.Nishi et al.: "“Simulated Computed Tomography for Reconstruction of Vacancies from Atomic Force Microscope Image"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.36,No.10B. L1410-L1412 (1997)

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  • [文献書誌] M.Abe et al.: "“Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37,No.2A. L167-L169 (1998)

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  • [文献書誌] H.Ueyama et al.: "“Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy"" Appl.Phys.A.Vol.66(in press). (1998)

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公開日: 1997-04-01   更新日: 2016-04-21  

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