| 研究課題/領域番号 |
09650016
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
応用物性・結晶工学
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| 研究機関 | 神戸大学 |
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研究代表者 |
藤居 義和 神戸大学, 工学部, 助教授 (80238534)
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| 研究分担者 |
吉田 虔太郎 (吉田 虚太郎) 神戸大学, 工学部, 教授 (60031085)
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| 研究期間 (年度) |
1997 – 1998
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| 研究課題ステータス |
完了 (1998年度)
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| 配分額 *注記 |
3,000千円 (直接経費: 3,000千円)
1998年度: 700千円 (直接経費: 700千円)
1997年度: 2,300千円 (直接経費: 2,300千円)
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| キーワード | 微小角入射X線散乱 / 結晶成長 / X線CCDカメラ / 表面荒さ / その場観察 / 超高真空 / 高温での純鉄表面 / PbSe(111)表面 / 表面 / X線 / 結晶 / 表面ステップ |
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| 研究概要 |
回転対陰極X線源を使った「超高真空表面X線回折装置」に、新しく「X線二次元検出システム」を取付け、散乱X線強度の二次元角度分布をその場で観測することにより、微小角X線散乱による結晶成長表面の研究を行った。
PbSe(111)表面について、X線二次元検出システムを使った散乱X線強度の散乱角分布測定実験と、従来のX線検出器を使った実験を併せて行い、X線二次元検出システムによる散乱X線強度分布測定結果の較正を行った。従来のX線検出器を使った鏡面反射角における散乱X線強度の測定において、PbSe(111)表面のLayer-by-layer成長に伴うX線強度振動を観測した。全反射臨界角より小さい幾つかの入射角でこの実験を行ったが、振動振幅は散乱強度の1%以内でノイズに埋もれており平均化処理によって現れる程度であった。次に、X線二次元検出システムを使った散乱X線強度分布のその場観察を行い、この散乱X線強度分布の中で鏡面反射角におけるX線強度と鏡面反射からずれた角度でのX線強度の比が、PbSe(111)表面の成長に伴ってどのような変化を示すかを求めた。散乱実験は幾つかの入射角で試みたが、測定に使用したX線CCDカメラの感度の範囲では、PbSe(111)表面の成長に伴う強度分布変化を示す振動は見られなかった。しかし、微小角入射X線散乱強度の二次元角度分布の測定を幾つか行った結果、非弾性散乱したX線の強度がある程度含まれていることが分かり、これら散乱X線のエネルギー分解測定が、新たな解析につながることが分かった。
また他にも、NiPめっきAl、Tiコーティング鋼について微小角入射X線の散乱強度測定を行い表面・界面構造解析を行った。また、真空中における、多結晶銀表面、多結晶鉄表面の常温と500℃における状態について、微小角入射X線の散乱強度測定を行った。その結果、高温において鉄表面のラフネスが変化することを、X線散乱強度分布の変化から見いだした。
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