| 研究課題/領域番号 |
10126242
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| 研究種目 |
特定領域研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究機関 | 九州大学 |
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研究代表者 |
高原 淳 九州大学, 工学部, 助教授 (20163305)
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| 研究分担者 |
梶山 千里 九州大学, 工学部, 教授 (60037976)
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| 研究期間 (年度) |
1998
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| 研究課題ステータス |
完了 (1998年度)
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| 配分額 *注記 |
2,000千円 (直接経費: 2,000千円)
1998年度: 2,000千円 (直接経費: 2,000千円)
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| キーワード | ブロック共重合体 / 表面ナノ構造 / 末端基 / X線光電子分光法 / 原子間力顕微鏡 / 透過顕微鏡 / X線反射率測定 / 中性子反射率測定 |
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| 研究概要 |
水素末端のポリ(スチレン-b-4-ビニルビリジン)[P(St-b-4VP)-H]対称ジブロック共重合体及びフルオロアルキル基末端のP(St-b-4VP)C_2C_X^Fをリビグアニオン重合で合成した。薄膜をスピンキャストで調製し、表面組成はX線光電子分光(XPS)測定に基づき、また、薄膜の超薄切片を作製し、空気界面での分子鎖凝集状態を電子顕微鏡観察に基づき評価した。423Kで90時間熱処理後のP(St-b-4VP)C_2C_X^FのXPS測定により分子鎖末端のフルオロアルキル基は空気界面に濃縮し、濃縮の程度はフルオロアルキル鎖長の増大とともに顕著になることを見いだした。P(St-b-4VP)-Hの場合、表面自由エネルギーの低いPS成分は熱処理より空気界面へ濃縮された。この場合、ラメラ構造は膜面に平行に配列することが透過電子顕微鏡観察により明らかになった。一方、P(St-b-4VP)C_2C_X^Fの場合、P4VPの低表面自由エネルギー末端基のCF_3が空気界面に局在化するため、末端基に連接されるP4VPは高表面自由エネルギー成分であるにもかかわらず熱処理後も表面に存在し、ラメラは膜面から傾いて存在した。一方、Stブロックを重水素でラベルしたP(St-b-4VP)C_2C_X^F膜の中性子反射率測定の結果、長周期に対応する反射は観測されず、ラメラが膜面に平行に配列しないことが明らかになった。
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