| 研究課題/領域番号 |
10305010
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
機械材料・材料力学
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
大谷 隆一 京都大学, 工学研究科, 教授 (50025946)
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| 研究分担者 |
多田 直哉 岡山大学, 工学部, 助教授 (70243053)
北村 隆行 京都大学, 工学研究科, 教授 (20169882)
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| 研究期間 (年度) |
1998 – 2000
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| 研究課題ステータス |
完了 (2000年度)
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| 配分額 *注記 |
40,400千円 (直接経費: 40,400千円)
2000年度: 2,000千円 (直接経費: 2,000千円)
1999年度: 1,900千円 (直接経費: 1,900千円)
1998年度: 36,500千円 (直接経費: 36,500千円)
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| キーワード | 走査型プローブ顕微鏡 / 電位分布測定装置 / 電位場解析 / 微小欠陥 / 微小き裂 / 微小はく離 |
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| 研究概要 |
1.直流電位差法による多数き裂分布の逆推定に関する電位場解析
き裂まわりの電位場解析を効率的に行なう手法として、き裂電流修正法を提案し、これを用いて3次元的にランダムかつ多数に分布する円形き裂群および2次元分布する貫通き裂群の電位場解析を行なった。また、この結果にもとづいて直流電位差法によるき裂分布の推定手法を提案した。
2.導電性材料の表面直下における微小欠陥の評価
微小領域電流分布測定装置を搭載した走査型プローブ顕微鏡を用いて、試料底面-カンチレバー間に電流を流し、内部欠陥の検出・評価を行なった。理論的検討の特徴は、上記のき裂電流修正法を適用するところにある。実験においては、カンチレバーに流れ込む電流量がカンチレバーと試料との接触状態(接触抵抗等)の変化によって変動することが明らかとなった。その変動を除去あるいは最小化する測定条件を見出すため、接触面積の変動で模擬した電位場の数値解析を行なった。その結果、先端形状を改良した専用のカンチレバーの作成ならびに新しいカンチレバー制御機構を有する機器の開発が必要であるとの結論を得た。
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